![](/images/graphics-bg.png)
New analysis to measure the capacitance and conductance of MOS structure
العناوين الأخرى
تحليلات حديثة لقياس التسعة و التوصيلية في تركيبة ال (MOS)
المؤلفون المشاركون
Ali, Luqman Safar
Muhammad, Waka Farman
المصدر
al-Rafidain Engineering Journal
العدد
المجلد 14، العدد 1 (31 مارس/آذار 2006)، ص ص. 47-57، 11ص.
الناشر
تاريخ النشر
2006-03-31
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
11
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص AR
في هذا البحث تم تصنيع طبقات أغشية رقيقة متتالية من المقاومات و العوازل على طبقة أساس معينة و ذلك لبناء دائرة R-Y-NR ذات أربعة أطراف.
فإذا كانت طبقة الأساس هي السيلكون كشبه موصل و الأوكسيد SiO2 كعازل و البوابة هي طبقة مقاومة من النيكروم (NiCr) فبذلك تتكون دائرة (R-Y-NR) من تركيبة ال (MOS).
و على هذا الأساس تم تحليل هذه الدائرة و من ثم استخرجت قيم المتسعة و التوصيلية من خلال استخدام برنامج ال (MATLAB) و في ترددات مختلفة.
و للتأكد من صلاحية هذه الطريقة و صحتها فقد قورنت نتائج مستحصلة بهذه الطريقة لتراكيب معينة مع تلك التي استحصلت من جهاز ال (LCR) للقياس لنفس النماذج فكان هناك تطابقا متكاملا للنتائج في الطريقتين.
الملخص EN
In this research thin film layers have been prepared at alternate layers of resistive and dielectric deposited on appropriate substrates to form four–terminal RY NR network.
If the gate of the MOS structures deposited as a strip of resistor film like NiCr, the MOS structure can be analyzed as R-Y-NR network.
A method of analysis has been proposed to measure the shunt capacitance and the shunt conductance of certain MOS samples.
Matlab program has been used to compute shunt capacitance and shunt conductance at different frequencies.
The results computed by this method have been compared with the results obtained by LCR meter method and showed perfect coincident with each other.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Muhammad, Waka Farman& Ali, Luqman Safar. 2006. New analysis to measure the capacitance and conductance of MOS structure. al-Rafidain Engineering Journal،Vol. 14, no. 1, pp.47-57.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-348753
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Muhammad, Waka Farman& Ali, Luqman Safar. New analysis to measure the capacitance and conductance of MOS structure. al-Rafidain Engineering Journal Vol. 14, no. 1 (2006), pp.47-57.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-348753
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Muhammad, Waka Farman& Ali, Luqman Safar. New analysis to measure the capacitance and conductance of MOS structure. al-Rafidain Engineering Journal. 2006. Vol. 14, no. 1, pp.47-57.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-348753
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes appendices : p. 53-57
رقم السجل
BIM-348753
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)