The structure and optical properties of CdSe : Cu thin films
العناوين الأخرى
الخواص التركيبية و البصرية للأغشية الرقيقة CdSe : Cu
المؤلفون المشاركون
Ulwan, Tariq Jafar
Naji, Iqbal Siham
al-Fuadi, Iman Muzhir Nasir
المصدر
العدد
المجلد 6، العدد 1 (31 مارس/آذار 2009)9ص.
الناشر
جامعة بغداد كلية العلوم للبنات
تاريخ النشر
2009-03-31
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
9
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص AR
حضرت الأغشية الرقيقة CdSe : Cu المتعددة البلورات و المطعمة بالنحاس بنسبة (5Wt%) باستعمال تقنية التبخير الفراغي بمدى درجة حرارة أساس (Ts = RT – 250)˚C على قواعد زجاجية.
حدد تركيب تلك الأغشية بواسطة الفحص بالأشعة السينية (XRD).
بينت دراسات حيود الأشعة السينية بأن التركيب يكون من النوع المتعدد البلورات السداسي، و هناك قمة قوية بالاتجاه (200) عند (Ts = RT – 250) ˚C بينما عند درجات حرارة الأساس العالية (Ts = 150 – 250) ˚C يتحول التركيب إلى البلورة المفردة.
درست الخصائص البصرية كدالة لدرجة حرارة الأساس (Ts) و درست النفاذية و الامتصاصية و الانعكاسية.
فجوة الطاقة تزداد بزيادة درجة حرارة الأساس من (1.65 – 1.84) eV و تقل العشوائية نتيجة للتحسن بالتركيب البلوري.
تمتلك الأغشية فجوة طاقة مباشرة و تزاح حافة الامتصاص باتجاه الأطوال الموجية القصيرة لأغشية CdSe : Cu بزيادة درجة حرارة الأساس وجد بأن معامل الامتصاص يقل بزيادة درجة حرارة الأساس من (0.94 x 104 – 0.42 x 104) cm-1 at Ts = RT – 250 ˚ C، كذلك تقل كثافة الحالات بزيادة درجة حرارة الأساس (0.20 – 0.07) eV ذلك نتيجة لإعادة التبلور بواسطة التسخين بدرجة حرارة الأساس.
كذلك درس معامل الخمود و معامل الانكسار و ثوابت العزل كدالة لدرجة حرارة الأساس.
الملخص EN
A polycrystalline CdSe thin films doped with (5wt %) of Cu was fabricated using vacuum evaporation technique in the substrate temperature range(Ts = RT-250)oC on glass substrates of the thickness(0.8μm).
The structure of these films are determined by X-ray diffraction (XRD).
The X-ray diffraction studies shows that the structure is polycrystalline with hexagonal structure, and there are strong peaks at the direction (200) at (Ts = RT-150) oC, while at higher substrate temperature(Ts=150-250) oC the structure is single crystal.
The optical properties as a function of Ts were studied.
The absorption, transmission, and reflection has been studied, The optical energy gap (Eg)increases with increase of substrate temperature from (1.
65-1.
84)eV due to improvement in the structure.
The amorphousity of the films decreases with increasing Ts.
The films have direct energy gap and the absorption edge was shift slightly towards smaller wavelength for CdSe:Cu thin film with increase of substrate temperature.it was found that the absorption coefficient was decreased with increasing of substrate temperature due to increases the value of(Eg).
The CdSe:Cu films showed absorption coefficient in the range (0.
94 x 104-0.
42 x 104)cm-1at Ts = RT-250 oC.
Also the density of state decreases with increasing of substrate temperatures from (0.20-0.
07)eV, it is possibly due to the recrystallization by the heating substrate temperatures..
Also the extinction coefficient, refractive index and dielectric constant have been studied.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
al-Fuadi, Iman Muzhir Nasir& Ulwan, Tariq Jafar& Naji, Iqbal Siham. 2009. The structure and optical properties of CdSe : Cu thin films. Um-Salama Science Journal،Vol. 6, no. 1.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-367038
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Naji, Iqbal Siham…[et al.]. The structure and optical properties of CdSe : Cu thin films. Um-Salama Science Journal Vol. 16, no. 1 (2009).
https://search.emarefa.net/detail/BIM-367038
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
al-Fuadi, Iman Muzhir Nasir& Ulwan, Tariq Jafar& Naji, Iqbal Siham. The structure and optical properties of CdSe : Cu thin films. Um-Salama Science Journal. 2009. Vol. 6, no. 1.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-367038
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-367038
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر