The structure and optical properties of CdSe : Cu thin films
Other Title(s)
الخواص التركيبية و البصرية للأغشية الرقيقة CdSe : Cu
Joint Authors
Ulwan, Tariq Jafar
Naji, Iqbal Siham
al-Fuadi, Iman Muzhir Nasir
Source
Issue
Vol. 6, Issue 1 (31 Mar. 2009)9 p.
Publisher
University of Baghdad College of Science for Women
Publication Date
2009-03-31
Country of Publication
Iraq
No. of Pages
9
Main Subjects
Topics
Abstract AR
حضرت الأغشية الرقيقة CdSe : Cu المتعددة البلورات و المطعمة بالنحاس بنسبة (5Wt%) باستعمال تقنية التبخير الفراغي بمدى درجة حرارة أساس (Ts = RT – 250)˚C على قواعد زجاجية.
حدد تركيب تلك الأغشية بواسطة الفحص بالأشعة السينية (XRD).
بينت دراسات حيود الأشعة السينية بأن التركيب يكون من النوع المتعدد البلورات السداسي، و هناك قمة قوية بالاتجاه (200) عند (Ts = RT – 250) ˚C بينما عند درجات حرارة الأساس العالية (Ts = 150 – 250) ˚C يتحول التركيب إلى البلورة المفردة.
درست الخصائص البصرية كدالة لدرجة حرارة الأساس (Ts) و درست النفاذية و الامتصاصية و الانعكاسية.
فجوة الطاقة تزداد بزيادة درجة حرارة الأساس من (1.65 – 1.84) eV و تقل العشوائية نتيجة للتحسن بالتركيب البلوري.
تمتلك الأغشية فجوة طاقة مباشرة و تزاح حافة الامتصاص باتجاه الأطوال الموجية القصيرة لأغشية CdSe : Cu بزيادة درجة حرارة الأساس وجد بأن معامل الامتصاص يقل بزيادة درجة حرارة الأساس من (0.94 x 104 – 0.42 x 104) cm-1 at Ts = RT – 250 ˚ C، كذلك تقل كثافة الحالات بزيادة درجة حرارة الأساس (0.20 – 0.07) eV ذلك نتيجة لإعادة التبلور بواسطة التسخين بدرجة حرارة الأساس.
كذلك درس معامل الخمود و معامل الانكسار و ثوابت العزل كدالة لدرجة حرارة الأساس.
Abstract EN
A polycrystalline CdSe thin films doped with (5wt %) of Cu was fabricated using vacuum evaporation technique in the substrate temperature range(Ts = RT-250)oC on glass substrates of the thickness(0.8μm).
The structure of these films are determined by X-ray diffraction (XRD).
The X-ray diffraction studies shows that the structure is polycrystalline with hexagonal structure, and there are strong peaks at the direction (200) at (Ts = RT-150) oC, while at higher substrate temperature(Ts=150-250) oC the structure is single crystal.
The optical properties as a function of Ts were studied.
The absorption, transmission, and reflection has been studied, The optical energy gap (Eg)increases with increase of substrate temperature from (1.
65-1.
84)eV due to improvement in the structure.
The amorphousity of the films decreases with increasing Ts.
The films have direct energy gap and the absorption edge was shift slightly towards smaller wavelength for CdSe:Cu thin film with increase of substrate temperature.it was found that the absorption coefficient was decreased with increasing of substrate temperature due to increases the value of(Eg).
The CdSe:Cu films showed absorption coefficient in the range (0.
94 x 104-0.
42 x 104)cm-1at Ts = RT-250 oC.
Also the density of state decreases with increasing of substrate temperatures from (0.20-0.
07)eV, it is possibly due to the recrystallization by the heating substrate temperatures..
Also the extinction coefficient, refractive index and dielectric constant have been studied.
American Psychological Association (APA)
al-Fuadi, Iman Muzhir Nasir& Ulwan, Tariq Jafar& Naji, Iqbal Siham. 2009. The structure and optical properties of CdSe : Cu thin films. Um-Salama Science Journal،Vol. 6, no. 1.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-367038
Modern Language Association (MLA)
Naji, Iqbal Siham…[et al.]. The structure and optical properties of CdSe : Cu thin films. Um-Salama Science Journal Vol. 16, no. 1 (2009).
https://search.emarefa.net/detail/BIM-367038
American Medical Association (AMA)
al-Fuadi, Iman Muzhir Nasir& Ulwan, Tariq Jafar& Naji, Iqbal Siham. The structure and optical properties of CdSe : Cu thin films. Um-Salama Science Journal. 2009. Vol. 6, no. 1.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-367038
Data Type
Journal Articles
Language
English
Notes
Includes bibliographical references
Record ID
BIM-367038