![](/images/graphics-bg.png)
Extraction of important parameters of a silicon diode used as particles detector
المؤلفون المشاركون
Sadun, A.
Dehimi, L.
Sengouga, N.
Terghini, W.
Maghribi, M. L.
المصدر
Journal of New Technology and Materials
العدد
المجلد 2، العدد 2 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 29-33، 5ص.
الناشر
جامعة العربي بن مهيدي بأم البواقي
تاريخ النشر
2012-12-31
دولة النشر
الجزائر
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص EN
The Capacitance-Voltage characteristics (C-V) and the resistivity (ρ) of a p+nn+ silicon diode used as a particle detector is numerically simulated using the finite difference method.
These characteristics permit to extract the important and useful parameters for the design of a detector diode used in a harsh environment and subjected to strong fluencies, such as the depletion voltage (Vdep), the effective concentration and the maximum resistivity, the reduction rate of the donors (c) and the introduction rate of defects (g).
When this junction is subjected to strong radiations, physical defects which are created in the semiconductor lattice have undesirable effects and can degrade the performance of the detectors.
These defects behave like deep levels and/or generation recombination (g-r) centres.
The depletion voltage and the effective concentration were calculated by using C-V characteristic.
The evolution of the effective density in function with the density of traps acceptor led as to find the redaction rate of the donors (c) and the introduction rate ( β).
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Sadun, A.& Dehimi, L.& Sengouga, N.& Terghini, W.& Maghribi, M. L.. 2012. Extraction of important parameters of a silicon diode used as particles detector. Journal of New Technology and Materials،Vol. 2, no. 2, pp.29-33.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-367574
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Sadun, A.…[et al.]. Extraction of important parameters of a silicon diode used as particles detector. Journal of New Technology and Materials Vol. 2, no. 2 (Dec. 2012), pp.29-33.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-367574
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Sadun, A.& Dehimi, L.& Sengouga, N.& Terghini, W.& Maghribi, M. L.. Extraction of important parameters of a silicon diode used as particles detector. Journal of New Technology and Materials. 2012. Vol. 2, no. 2, pp.29-33.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-367574
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 32-33
رقم السجل
BIM-367574
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)