Structural and optical characterization of ZnO thin films by Sol-gel technique

العناوين الأخرى

اﻟﻤﻤﻴزات اﻟﺘرﻛﻴﺒﻴﺔ و اﻟﻀوﺌﻴﺔ ﻟﻸﻏﺸﻴﺔ اﻟرﻗﻴﻘﺔ ﻟﻠﻤرﻛب ZnO المحضرة بتقنية Sol-gel

تاريخ النشر

2014-03-31

دولة النشر

العراق

عدد الصفحات

التخصصات الرئيسية

الفيزياء

الموضوعات

الخواص الضوئية

الملخص AR

حضرت الأغشية الرقيقة لـ ZnO على قواعد من الزجاج بطريقة (sol-gel spin coating) بدرجة حرارة تحضير للمحلول 75°C لمدة ساعة واحدة ثم بردت إلى درجة حرارة الغرفة بشكل تدريجي للحصول على محلول (Sol).

رسب المحلول على القواعد الزجاجية بطريقة (spin coating) لمدة 30 s بعدها تم دراسة تأثير المعاملة الحرارية (التلدين) بدرجات حرارة مختلفة 300°C و 400°C و 500°C على الخواص التركيبية و الضوئية.

عملية تحليل التركيب البلوري تمت باستخدام حيود الأشعة السينية (XRD) للأغشية المحضرة و أظهرت نتائج التحليل أن جميع الأغشية المحضرة تمتلك تركيباً بلورياً متعدد التبلور نوع hexagonal wurtzite حيث تبقى الأغشية محافظة على هذا التركيب البلوري على مدى جميع درجات حرارة التلدين المستخدمة.

الأغشية المحضرة و الملدنة لها ثوابت شبيكية مقاربة جداً للثوابت الشبيكية الموجودة في البطاقات القياسية المعروفة عالميا في هذا المجال و هي (a=b=3.260Å, c=5.215Å).

تم استخدام علاقة شيرار لحساب الحجم الحبيبي لتلك الأغشية.

تم قياس فجوة الطاقة الضوئية و نفاذية الأغشية للضوء باستعمال مطياف UV-VIS-NIR بمدى الأطوال الموجية 250 nm-800 nm و كانت الأغشية لها خاصية الانتقال المباشر المسموح بمعدل فجوة طاقة 3.25eV و كذلك تم حساب طاقة Urbach (وهي طاقة الربط المستثارة: و التي تعتبر عرض الذيول للحالة المتمركزة و المرافقة لحالة اللاتبلور في الحزمة الممنوعة).

كان معدل نفاذية الأغشية للضوء المرئي بحدود 90%-93%.

الملخص EN

The ZnO thin films have been fabricated on commercial glass substrates by sol-gel spin coating process and annealing temperatures 300PoPC, 400PoPC and 500PoPC.

X-ray diffraction (XRD) and UV-VIS-NIR are used to characterize ZnO thin films.

X-ray diffraction study show that all the films prepared in this work have hexagonal wurtzite polycrystalline structure, with lattice constants a = b = 3.260Å, c=5.215Å.

A significant increase in the XRD peak intensities for the ZnO films after annealing can be observed.

Scherrer's formula was used to calculate crystallite size.

The optical band gap energy of thin films is found to be direct allowed transition with average value 3.25 eV.

Urbach energy is calculated.

The average value of transmittance of thin films in visible range is found to be 90 %-93 %.

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

Ali, Muhammad Muhsin& Mashari, Sayf Muhammad. 2014. Structural and optical characterization of ZnO thin films by Sol-gel technique. Journal of Basrah Researches : Sciences،Vol. 40, no. 1A, pp.39-48.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-371561

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

Ali, Muhammad Muhsin& Mashari, Sayf Muhammad. Structural and optical characterization of ZnO thin films by Sol-gel technique. Journal of Basrah Researches : Sciences Vol. 40, no. 1A (Mar. 2014), pp.39-48.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-371561

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

Ali, Muhammad Muhsin& Mashari, Sayf Muhammad. Structural and optical characterization of ZnO thin films by Sol-gel technique. Journal of Basrah Researches : Sciences. 2014. Vol. 40, no. 1A, pp.39-48.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-371561

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

الإنجليزية

الملاحظات

Includes bibliographical references : p. 46-47

رقم السجل

BIM-371561

حفظتم الحفظ طباعة

قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"

أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي

مرصد "معرفة"
لقياس الإنتاج العلمي العربي

تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر