Structural and optical characterization of ZnO thin films by Sol-gel technique
Other Title(s)
اﻟﻤﻤﻴزات اﻟﺘرﻛﻴﺒﻴﺔ و اﻟﻀوﺌﻴﺔ ﻟﻸﻏﺸﻴﺔ اﻟرﻗﻴﻘﺔ ﻟﻠﻤرﻛب ZnO المحضرة بتقنية Sol-gel
Joint Authors
Mashari, Sayf Muhammad
Ali, Muhammad Muhsin
Source
Journal of Basrah Researches : Sciences
Issue
Vol. 40, Issue 1A (31 Mar. 2014), pp.39-48, 10 p.
Publisher
University of Basrah College of Education for Pure Sciences
Publication Date
2014-03-31
Country of Publication
Iraq
No. of Pages
10
Main Subjects
Topics
Abstract AR
حضرت الأغشية الرقيقة لـ ZnO على قواعد من الزجاج بطريقة (sol-gel spin coating) بدرجة حرارة تحضير للمحلول 75°C لمدة ساعة واحدة ثم بردت إلى درجة حرارة الغرفة بشكل تدريجي للحصول على محلول (Sol).
رسب المحلول على القواعد الزجاجية بطريقة (spin coating) لمدة 30 s بعدها تم دراسة تأثير المعاملة الحرارية (التلدين) بدرجات حرارة مختلفة 300°C و 400°C و 500°C على الخواص التركيبية و الضوئية.
عملية تحليل التركيب البلوري تمت باستخدام حيود الأشعة السينية (XRD) للأغشية المحضرة و أظهرت نتائج التحليل أن جميع الأغشية المحضرة تمتلك تركيباً بلورياً متعدد التبلور نوع hexagonal wurtzite حيث تبقى الأغشية محافظة على هذا التركيب البلوري على مدى جميع درجات حرارة التلدين المستخدمة.
الأغشية المحضرة و الملدنة لها ثوابت شبيكية مقاربة جداً للثوابت الشبيكية الموجودة في البطاقات القياسية المعروفة عالميا في هذا المجال و هي (a=b=3.260Å, c=5.215Å).
تم استخدام علاقة شيرار لحساب الحجم الحبيبي لتلك الأغشية.
تم قياس فجوة الطاقة الضوئية و نفاذية الأغشية للضوء باستعمال مطياف UV-VIS-NIR بمدى الأطوال الموجية 250 nm-800 nm و كانت الأغشية لها خاصية الانتقال المباشر المسموح بمعدل فجوة طاقة 3.25eV و كذلك تم حساب طاقة Urbach (وهي طاقة الربط المستثارة: و التي تعتبر عرض الذيول للحالة المتمركزة و المرافقة لحالة اللاتبلور في الحزمة الممنوعة).
كان معدل نفاذية الأغشية للضوء المرئي بحدود 90%-93%.
Abstract EN
The ZnO thin films have been fabricated on commercial glass substrates by sol-gel spin coating process and annealing temperatures 300PoPC, 400PoPC and 500PoPC.
X-ray diffraction (XRD) and UV-VIS-NIR are used to characterize ZnO thin films.
X-ray diffraction study show that all the films prepared in this work have hexagonal wurtzite polycrystalline structure, with lattice constants a = b = 3.260Å, c=5.215Å.
A significant increase in the XRD peak intensities for the ZnO films after annealing can be observed.
Scherrer's formula was used to calculate crystallite size.
The optical band gap energy of thin films is found to be direct allowed transition with average value 3.25 eV.
Urbach energy is calculated.
The average value of transmittance of thin films in visible range is found to be 90 %-93 %.
American Psychological Association (APA)
Ali, Muhammad Muhsin& Mashari, Sayf Muhammad. 2014. Structural and optical characterization of ZnO thin films by Sol-gel technique. Journal of Basrah Researches : Sciences،Vol. 40, no. 1A, pp.39-48.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-371561
Modern Language Association (MLA)
Ali, Muhammad Muhsin& Mashari, Sayf Muhammad. Structural and optical characterization of ZnO thin films by Sol-gel technique. Journal of Basrah Researches : Sciences Vol. 40, no. 1A (Mar. 2014), pp.39-48.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-371561
American Medical Association (AMA)
Ali, Muhammad Muhsin& Mashari, Sayf Muhammad. Structural and optical characterization of ZnO thin films by Sol-gel technique. Journal of Basrah Researches : Sciences. 2014. Vol. 40, no. 1A, pp.39-48.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-371561
Data Type
Journal Articles
Language
English
Notes
Includes bibliographical references : p. 46-47
Record ID
BIM-371561
