An accurate microcontroller-based system for capacitance measurement

المؤلف

Bani Amir, Mashhur

المصدر

Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series

العدد

المجلد 15، العدد 4 (31 ديسمبر/كانون الأول 2000)، ص ص. 105-123، 19ص.

الناشر

جامعة مؤتة عمادة البحث العلمي

تاريخ النشر

2000-12-31

دولة النشر

الأردن

عدد الصفحات

19

التخصصات الرئيسية

الهندسة الميكانيكية

الملخص EN

A new accurate capacitance-measurement system comprising of a discrete capacitance-dependent oscillator and a microcontroller has been designed.

The design eliminates the parasitic capacitances and measurable humidity effects.

Moreover, it reduces the op-amp nonidealities and temperature effects to below 10 ppm/°C over the temperature range of 10 °C to 70 "C.

It can measure the capacitance up to 100 pF with resolution 40 aF and accuracy less than 80 ppm with respect to a reference capacitor.

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

Bani Amir, Mashhur. 2000. An accurate microcontroller-based system for capacitance measurement. Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series،Vol. 15, no. 4, pp.105-123.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-377565

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

Bani Amir, Mashhur. An accurate microcontroller-based system for capacitance measurement. Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series Vol. 15, no. 4 (2000), pp.105-123.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-377565

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

Bani Amir, Mashhur. An accurate microcontroller-based system for capacitance measurement. Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series. 2000. Vol. 15, no. 4, pp.105-123.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-377565

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

الإنجليزية

الملاحظات

Includes appendix : p. 123

رقم السجل

BIM-377565