![](/images/graphics-bg.png)
An accurate microcontroller-based system for capacitance measurement
المؤلف
المصدر
Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series
العدد
المجلد 15، العدد 4 (31 ديسمبر/كانون الأول 2000)، ص ص. 105-123، 19ص.
الناشر
تاريخ النشر
2000-12-31
دولة النشر
الأردن
عدد الصفحات
19
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
A new accurate capacitance-measurement system comprising of a discrete capacitance-dependent oscillator and a microcontroller has been designed.
The design eliminates the parasitic capacitances and measurable humidity effects.
Moreover, it reduces the op-amp nonidealities and temperature effects to below 10 ppm/°C over the temperature range of 10 °C to 70 "C.
It can measure the capacitance up to 100 pF with resolution 40 aF and accuracy less than 80 ppm with respect to a reference capacitor.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Bani Amir, Mashhur. 2000. An accurate microcontroller-based system for capacitance measurement. Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series،Vol. 15, no. 4, pp.105-123.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-377565
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Bani Amir, Mashhur. An accurate microcontroller-based system for capacitance measurement. Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series Vol. 15, no. 4 (2000), pp.105-123.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-377565
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Bani Amir, Mashhur. An accurate microcontroller-based system for capacitance measurement. Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series. 2000. Vol. 15, no. 4, pp.105-123.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-377565
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes appendix : p. 123
رقم السجل
BIM-377565
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)