Stressing effect and modifcation of current conduction in tantalum oxide films on n-GaAs sibstrate
المؤلف
المصدر
Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series
العدد
المجلد 12، العدد 3 (30 إبريل/نيسان 1997)، ص ص. 111-129، 19ص.
الناشر
تاريخ النشر
1997-04-30
دولة النشر
الأردن
عدد الصفحات
19
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
The mechanism of current flow in thermally oxidised oftantalum which has been evaporated by electron beam on surface of n-GaAs to fabricate a Metal Insulator - Semiconductor ( MIS ) devices was investigated .
The charge transport through tantalum oxide film appears to be controlled by the thermal excitation of electron from traps ( Poole-Frenkel effect).
The effect of stressing voltage on MIS devices were studied.
It was found that the charge trapping inside tantalum oxide film and at the n-GaAs/Ta2C)5 interface will modify the conduction through the insulating films.
The capacitance-voltage characteristic of the devices with and without stressing voltage were studied.
The flat band voltage Vpg was determnined and the shift in its value from negative to positive depend on the condition of the stress.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Muhammad, Mustafa A.. 1997. Stressing effect and modifcation of current conduction in tantalum oxide films on n-GaAs sibstrate. Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series،Vol. 12, no. 3, pp.111-129.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-395105
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Muhammad, Mustafa A.. Stressing effect and modifcation of current conduction in tantalum oxide films on n-GaAs sibstrate. Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series Vol. 12, no. 3 (Apr. 1997), pp.111-129.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-395105
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Muhammad, Mustafa A.. Stressing effect and modifcation of current conduction in tantalum oxide films on n-GaAs sibstrate. Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series. 1997. Vol. 12, no. 3, pp.111-129.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-395105
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes appendices : p. 121-129
رقم السجل
BIM-395105
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر