On the reliability of complex electronic systems
المؤلف
المصدر
Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series
العدد
المجلد 6، العدد 2 (31 ديسمبر/كانون الأول 1991)، ص ص. 141-154، 14ص.
الناشر
تاريخ النشر
1991-12-31
دولة النشر
الأردن
عدد الصفحات
14
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
The paper presents a genera! mathematical apparatus for determining the steady stale reliability piiiameterN of complex electronic systems.
This semi-Markov approach allows the different activities jn the system to have probability distribution of general type.
Closed form expressions are derived which are the generalisation of those known in the literature for the Markov case.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Begain, Khalid. 1991. On the reliability of complex electronic systems. Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series،Vol. 6, no. 2, pp.141-154.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-400154
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Begain, Khalid. On the reliability of complex electronic systems. Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series Vol. 6, no. 2 (Dec. 1991), pp.141-154.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-400154
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Begain, Khalid. On the reliability of complex electronic systems. Mu'tah Journal for Research and Studies : Natural and Applied Sciences Series. 1991. Vol. 6, no. 2, pp.141-154.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-400154
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 154
رقم السجل
BIM-400154
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر