![](/images/graphics-bg.png)
Effect of Processing Parameters on Thickness of Columnar Structured Silicon Wafers Directly Grown from Silicon Melts
المؤلفون المشاركون
Lee, Jin-Seok
Ahn, Young-Soo
Jang, Bo-Yun
المصدر
International Journal of Photoenergy
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-6، 6ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-02-06
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
6
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
In order to obtain optimum growth conditions for desired thickness and more effective silicon feedstock usage, effects of processing parameters such as preheated substrate temperatures, time intervals, moving velocity of substrates, and Ar gas blowing rates on silicon ribbon thickness were investigated in the horizontal growth process.
Most of the parameters strongly affected in the control of ribbon thickness with columnar grain structure depended on the solidification rate.
The thickness of the silicon ribbon decreased with an increasing substrate temperature, decreasing time interval, and increasing moving velocity of the substrate.
However, the blowing of Ar gas onto a liquid layer existing on the surface of solidified ribbon contributed to achieving smooth surface roughness but did not closely affect the change of ribbon thickness in the case of a blowing rate of ≥0.65 Nm3/h because the thickness of the solidified layer was already determined by the exit height of the reservoir.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Lee, Jin-Seok& Jang, Bo-Yun& Ahn, Young-Soo. 2012. Effect of Processing Parameters on Thickness of Columnar Structured Silicon Wafers Directly Grown from Silicon Melts. International Journal of Photoenergy،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-449490
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Lee, Jin-Seok…[et al.]. Effect of Processing Parameters on Thickness of Columnar Structured Silicon Wafers Directly Grown from Silicon Melts. International Journal of Photoenergy No. 2012 (2012), pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-449490
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Lee, Jin-Seok& Jang, Bo-Yun& Ahn, Young-Soo. Effect of Processing Parameters on Thickness of Columnar Structured Silicon Wafers Directly Grown from Silicon Melts. International Journal of Photoenergy. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-449490
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-449490
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)