Radiation Hardness of Flash Memory Fabricated in Deep-Submicron Technology
المؤلفون المشاركون
Stanković, Koviljka
Cavrić, Bojan
Pejović, Milić
Dolićanin, Edin
Petronijević, Predrag
المصدر
International Journal of Photoenergy
العدد
المجلد 2013، العدد 2013 (31 ديسمبر/كانون الأول 2013)، ص ص. 1-7، 7ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2013-06-18
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
This paper discusses the current problem of the electronic memory reliability in terms of the ionizing radiation effects.
The topic is actual since the high degree of components' miniaturization integrated into the flash memory causes the extreme sensitivity of this memory type to the ionizing radiation effects.
The effects of ionizing radiation may cause changes in stored data, or even the physical destruction of the components.
At the end, the experimentally and numerically obtained effects of radiation on specific flash memories are shown and discussed.
The results obtained by laboratory and numerical experiments showed good agreement with each other and with the theoretically expected results.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Cavrić, Bojan& Dolićanin, Edin& Petronijević, Predrag& Pejović, Milić& Stanković, Koviljka. 2013. Radiation Hardness of Flash Memory Fabricated in Deep-Submicron Technology. International Journal of Photoenergy،Vol. 2013, no. 2013, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-450512
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Cavrić, Bojan…[et al.]. Radiation Hardness of Flash Memory Fabricated in Deep-Submicron Technology. International Journal of Photoenergy No. 2013 (2013), pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-450512
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Cavrić, Bojan& Dolićanin, Edin& Petronijević, Predrag& Pejović, Milić& Stanković, Koviljka. Radiation Hardness of Flash Memory Fabricated in Deep-Submicron Technology. International Journal of Photoenergy. 2013. Vol. 2013, no. 2013, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-450512
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-450512
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر