Antirandom Testing : A Distance-Based Approach

المؤلفون المشاركون

Wu, Shen Hui
Jandhyala, Sridhar
Malaiya, Yashwant K.
Jayasumana, Anura P.

المصدر

VLSI Design

العدد

المجلد 2008، العدد 2008 (31 ديسمبر/كانون الأول 2008)، ص ص. 1-9، 9ص.

الناشر

Hindawi Publishing Corporation

تاريخ النشر

2008-03-17

دولة النشر

مصر

عدد الصفحات

9

التخصصات الرئيسية

العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات

الملخص EN

Random testing requires each test to be selected randomly regardless of the tests previously applied.

This paper introduces the concept of antirandom testing where each test applied is chosen such that its total distance from all previous tests is maximum.

This spans the test vector space to the maximum extent possible for a given number of vectors.

An algorithm for generating antirandom tests is presented.

Compared with traditional pseudorandom testing, antirandom testing is found to be very effective when a high-fault coverage needs to be achieved with a limited number of test vectors.

The superiority of the new approach is even more significant for testing bridging faults.

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

Wu, Shen Hui& Jandhyala, Sridhar& Malaiya, Yashwant K.& Jayasumana, Anura P.. 2008. Antirandom Testing : A Distance-Based Approach. VLSI Design،Vol. 2008, no. 2008, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-451136

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

Wu, Shen Hui…[et al.]. Antirandom Testing : A Distance-Based Approach. VLSI Design No. 2008 (2008), pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-451136

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

Wu, Shen Hui& Jandhyala, Sridhar& Malaiya, Yashwant K.& Jayasumana, Anura P.. Antirandom Testing : A Distance-Based Approach. VLSI Design. 2008. Vol. 2008, no. 2008, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-451136

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

الإنجليزية

الملاحظات

Includes bibliographical references

رقم السجل

BIM-451136