![](/images/graphics-bg.png)
Structure and Optical Properties of Silicon Nanocrystals Embedded in Amorphous Silicon Thin Films Obtained by PECVD
المؤلفون المشاركون
Monroy, B. M.
García-Sánchez, M. F.
Remolina Millán, Aduljay
Picquart, M.
Santana, G.
Ponce, A.
المصدر
العدد
المجلد 2011، العدد 2011 (31 ديسمبر/كانون الأول 2011)، ص ص. 1-9، 9ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2010-12-29
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
9
التخصصات الرئيسية
العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات
الكيمياء
هندسة مدنية
الملخص EN
Silicon nanocrystals embedded in amorphous silicon matrix were obtained by plasma enhanced chemical vapor deposition using dichlorosilane as silicon precursor.
The RF power and dichlorosilane to hydrogen flow rate ratio were varied to obtain different crystalline fractions and average sizes of silicon nanocrystals.
High-resolution transmission electron microscopy images and RAMAN measurements confirmed the existence of nanocrystals embedded in the amorphous matrix with average sizes between 2 and 6 nm.
Different crystalline fractions (from 12% to 54%) can be achieved in these films by regulating the selected growth parameters.
The global optical constants of the films were obtained by UV-visible transmittance measurements.
Effective band gap variations from 1.78 to 2.3 eV were confirmed by Tauc plot method.
Absorption coefficients higher than standard amorphous silicon were obtained in these thin films for specific growth parameters.
The relationship between the optical properties is discussed in terms of the different internal nanostructures of the samples.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Monroy, B. M.& Remolina Millán, Aduljay& García-Sánchez, M. F.& Ponce, A.& Picquart, M.& Santana, G.. 2010. Structure and Optical Properties of Silicon Nanocrystals Embedded in Amorphous Silicon Thin Films Obtained by PECVD. Journal of Nanomaterials،Vol. 2011, no. 2011, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-453174
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Monroy, B. M.…[et al.]. Structure and Optical Properties of Silicon Nanocrystals Embedded in Amorphous Silicon Thin Films Obtained by PECVD. Journal of Nanomaterials No. 2011 (2011), pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-453174
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Monroy, B. M.& Remolina Millán, Aduljay& García-Sánchez, M. F.& Ponce, A.& Picquart, M.& Santana, G.. Structure and Optical Properties of Silicon Nanocrystals Embedded in Amorphous Silicon Thin Films Obtained by PECVD. Journal of Nanomaterials. 2010. Vol. 2011, no. 2011, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-453174
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-453174
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)