Studying the Attribution of LiF in OLED by the C-V Characteristics

المؤلفون المشاركون

Zhang, Yong
Zhang, Chun-lin
Wang, Fang-cong
Liu, Su
Li, Hai-xia

المصدر

International Journal of Photoenergy

العدد

المجلد 2010، العدد 2010 (31 ديسمبر/كانون الأول 2010)، ص ص. 1-4، 4ص.

الناشر

Hindawi Publishing Corporation

تاريخ النشر

2010-12-02

دولة النشر

مصر

عدد الصفحات

4

التخصصات الرئيسية

الكيمياء

الملخص EN

The organic light-emitting device (OLED) with simple structures of indium tin oxide (ITO)/tris(8-quinolinolato) aluminum (Alq3)/LiF/Al and ITO/Alq3/Al was fabricated to analyze the contribution of LiF in OLED.

We used the C-V characteristics to investigate the contribution of LiF in OLED and found that the capacitance of the above-mentioned structures was 12.5 nF and 77.5 nF, respectively.

It is shown that the LiF layer affects the property of OLED resulting in the change of the capacitance of the device.

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

Zhang, Chun-lin& Wang, Fang-cong& Zhang, Yong& Li, Hai-xia& Liu, Su. 2010. Studying the Attribution of LiF in OLED by the C-V Characteristics. International Journal of Photoenergy،Vol. 2010, no. 2010, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-460929

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

Zhang, Chun-lin…[et al.]. Studying the Attribution of LiF in OLED by the C-V Characteristics. International Journal of Photoenergy No. 2010 (2010), pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-460929

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

Zhang, Chun-lin& Wang, Fang-cong& Zhang, Yong& Li, Hai-xia& Liu, Su. Studying the Attribution of LiF in OLED by the C-V Characteristics. International Journal of Photoenergy. 2010. Vol. 2010, no. 2010, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-460929

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

الإنجليزية

الملاحظات

Includes bibliographical references

رقم السجل

BIM-460929