Effects of Phosphorus Diffusion on Gettering of Metal Impurities in UMG Silicon Wafers
المؤلفون المشاركون
Choi, Kyoon
Yoon, Sung Yean
Kim, Jeong
المصدر
International Journal of Photoenergy
العدد
المجلد 2013، العدد 2013 (31 ديسمبر/كانون الأول 2013)، ص ص. 1-7، 7ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2013-11-26
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Fe distributions were simulated by using impurity-to-efficiency simulator for the analysis of phosphorus diffusion gettering and confirmed the dependencies of the electron lifetime on the various gettering conditions.
It was observed that iron atoms in the Si wafer could be more efficiently gettered if the temperatures were provided to the wafer in two different steps.
That two-step gettering process was applied to an upgraded-metallurgical grade (UMG) Si wafer, and the electron lifetimes of the UMG-Si wafer were 3 μsec by applying the second temperature profile at 600°C for 420 min.
It was also confirmed that the efficiency of the UMG-Si solar cell increased 0.53% due to two-step gettering process.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Yoon, Sung Yean& Kim, Jeong& Choi, Kyoon. 2013. Effects of Phosphorus Diffusion on Gettering of Metal Impurities in UMG Silicon Wafers. International Journal of Photoenergy،Vol. 2013, no. 2013, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-462672
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Yoon, Sung Yean…[et al.]. Effects of Phosphorus Diffusion on Gettering of Metal Impurities in UMG Silicon Wafers. International Journal of Photoenergy No. 2013 (2013), pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-462672
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Yoon, Sung Yean& Kim, Jeong& Choi, Kyoon. Effects of Phosphorus Diffusion on Gettering of Metal Impurities in UMG Silicon Wafers. International Journal of Photoenergy. 2013. Vol. 2013, no. 2013, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-462672
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-462672
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر