![](/images/graphics-bg.png)
Low-Frequency Noise and Microplasma Analysis for c-Si Solar Cell Characterization
المؤلفون المشاركون
Poruba, Aleš
Chobola, Zdenek
Dolensky, Jan
Vanek, Jiří
Luňák, Mirek
المصدر
International Journal of Photoenergy
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-5، 5ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-02-22
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
This paper brings the comparison of solar cell conversion efficiency and results from a noise spectroscopy and microplasma presence to evaluate the solar cell technology.
Three sets of monocrystalline silicon solar cells (c-Si) varying in front side phosphorus doped emitters were produced by standard screen-printing technique.
From the measurements it follows that the noise spectral density related to defects is of 1/f type and its magnitude.
It has been established that samples showing low noise feature high-conversion efficiency.
The best results were reached for a group solar cells with selective emitter structure prepared by double-phosphorus diffusion process.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Vanek, Jiří& Dolensky, Jan& Chobola, Zdenek& Luňák, Mirek& Poruba, Aleš. 2012. Low-Frequency Noise and Microplasma Analysis for c-Si Solar Cell Characterization. International Journal of Photoenergy،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-463586
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Vanek, Jiří…[et al.]. Low-Frequency Noise and Microplasma Analysis for c-Si Solar Cell Characterization. International Journal of Photoenergy No. 2012 (2012), pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-463586
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Vanek, Jiří& Dolensky, Jan& Chobola, Zdenek& Luňák, Mirek& Poruba, Aleš. Low-Frequency Noise and Microplasma Analysis for c-Si Solar Cell Characterization. International Journal of Photoenergy. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-463586
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-463586
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)