Built-in Test Enabled Diagnosis and Tuning of RF Transmitter Systems
المؤلفون المشاركون
Chatterjee, Abhjit
Sen, Shreyas
Natarajan, Vishwanath
Senguttuvan, Rajarajan
المصدر
العدد
المجلد 2008، العدد 2008 (31 ديسمبر/كانون الأول 2008)، ص ص. 1-10، 10ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2008-06-23
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
10
التخصصات الرئيسية
العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات
الملخص EN
Built-In RF test is a challenging problem due to the need to measure the values of complex test specifications on-chip with the precision of external RF test equipment.
BIT techniques are necessary for guiding system adaptation during field operation.
Prior research has demonstrated that embedded RF sensors can generate significant information about RF circuit performance.
In this paper, we propose a test methodology that enables efficient BIT and BIT-enabled tuning of RF systems.
A test generation approach is developed that co-optimizes the applied test stimulus, the type of embedded sensors, and the system response capture mechanisms for maximal accuracy of the BIT procedure.
This BIT technique is also used to perform diagnostic testing of the transmitter.
The information gathered from diagnosis is used to tune the transmitter for improved performance.
Simulation results demonstrate that BIT-assisted diagnosis and tuning can be performed with good accuracy using the proposed methodology.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Natarajan, Vishwanath& Senguttuvan, Rajarajan& Sen, Shreyas& Chatterjee, Abhjit. 2008. Built-in Test Enabled Diagnosis and Tuning of RF Transmitter Systems. VLSI Design،Vol. 2008, no. 2008, pp.1-10.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-470619
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Natarajan, Vishwanath…[et al.]. Built-in Test Enabled Diagnosis and Tuning of RF Transmitter Systems. VLSI Design No. 2008 (2008), pp.1-10.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-470619
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Natarajan, Vishwanath& Senguttuvan, Rajarajan& Sen, Shreyas& Chatterjee, Abhjit. Built-in Test Enabled Diagnosis and Tuning of RF Transmitter Systems. VLSI Design. 2008. Vol. 2008, no. 2008, pp.1-10.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-470619
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-470619
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر