![](/images/graphics-bg.png)
Photothermal Deflection Spectroscopy Study of Nanocrystalline Si (nc-Si) Thin Films Deposited on Porous Aluminum with PECVD
المؤلفون المشاركون
Ezzaouia, H.
Saadallah, Faycel
Ktifa, S.
Yacoubi, Noureddine
Ghrib, M.
المصدر
International Journal of Photoenergy
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-5، 5ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-04-12
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
We have studied the optical properties of nanocrystalline silicon (nc-Si) film deposited by plasma enhancement chemical vapor deposition (PECVD) on porous aluminum structure using, respectively, the Photothermal Deflection Spectroscopy (PDS) and Photoluminescence (PL).
The aim of this work is to investigate the influence of anodisation current on the optical properties of the porous aluminum silicon layers (PASL).
The morphology characterization studied by atomic force microscopy (AFM) technique has shown that the grain size of (nc-Si) increases with the anodisation current.
However, a band gap shift of the energy gap was observed.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Ktifa, S.& Ghrib, M.& Saadallah, Faycel& Ezzaouia, H.& Yacoubi, Noureddine. 2012. Photothermal Deflection Spectroscopy Study of Nanocrystalline Si (nc-Si) Thin Films Deposited on Porous Aluminum with PECVD. International Journal of Photoenergy،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-470688
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Ktifa, S.…[et al.]. Photothermal Deflection Spectroscopy Study of Nanocrystalline Si (nc-Si) Thin Films Deposited on Porous Aluminum with PECVD. International Journal of Photoenergy No. 2012 (2012), pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-470688
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Ktifa, S.& Ghrib, M.& Saadallah, Faycel& Ezzaouia, H.& Yacoubi, Noureddine. Photothermal Deflection Spectroscopy Study of Nanocrystalline Si (nc-Si) Thin Films Deposited on Porous Aluminum with PECVD. International Journal of Photoenergy. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-470688
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-470688
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)