Theoretical Study of a Thermophysical Property of Molten Semiconductors
المؤلفون المشاركون
المصدر
العدد
المجلد 2011، العدد 2011 (31 ديسمبر/كانون الأول 2011)، ص ص. 1-5، 5ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2011-04-14
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
This paper deals with theoretical approach to surface tension of molten silicon and germanium, and contributes to this field, which is very important.
A theoretical calculation for determining the surface tension of high-temperature semiconductor melts, such as molten silicon and germanium, in the temperature range 1687–1825 K and 1211–1400 K, respectively, is described.
The calculated temperature-dependence surface tension data for both Si and Ge are expressed as γ=876-0.32 (T-Tm) and γ=571-0.074 (T-Tm) (mJ m−2), respectively.
These values are in consistence with the reported experimental data (720–875 for Si and 560–632 mJ m−2 for Ge).
The calculated surface tension for both elements decreases linearly with temperature.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Aqra, Fathi& Ayyad, Ahmed. 2011. Theoretical Study of a Thermophysical Property of Molten Semiconductors. Journal of Metallurgy،Vol. 2011, no. 2011, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-472165
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Aqra, Fathi& Ayyad, Ahmed. Theoretical Study of a Thermophysical Property of Molten Semiconductors. Journal of Metallurgy No. 2011 (2011), pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-472165
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Aqra, Fathi& Ayyad, Ahmed. Theoretical Study of a Thermophysical Property of Molten Semiconductors. Journal of Metallurgy. 2011. Vol. 2011, no. 2011, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-472165
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-472165
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر