![](/images/graphics-bg.png)
The Impact of Statistical Leakage Models on Design Yield Estimation
المؤلفون المشاركون
Kanj, Rouwaida
Joshi, Rajiv
Nassif, Sani
المصدر
العدد
المجلد 2011، العدد 2011 (31 ديسمبر/كانون الأول 2011)، ص ص. 1-12، 12ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2011-02-22
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
12
التخصصات الرئيسية
العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات
الملخص EN
Device mismatch and process variation models play a key role in determining the functionality and yield of sub-100 nm design.
Average characteristics are often of interest, such as the average leakage current or the average read delay.
However, detecting rare functional fails is critical for memory design and designers often seek techniques that enable accurately modeling such events.
Extremely leaky devices can inflict functionality fails.
The plurality of leaky devices on a bitline increase the dimensionality of the yield estimation problem.
Simplified models are possible by adopting approximations to the underlying sum of lognormals.
The implications of such approximations on tail probabilities may in turn bias the yield estimate.
We review different closed form approximations and compare against the CDF matching method, which is shown to be most effective method for accurate statistical leakage modeling.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Kanj, Rouwaida& Joshi, Rajiv& Nassif, Sani. 2011. The Impact of Statistical Leakage Models on Design Yield Estimation. VLSI Design،Vol. 2011, no. 2011, pp.1-12.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-474185
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Kanj, Rouwaida…[et al.]. The Impact of Statistical Leakage Models on Design Yield Estimation. VLSI Design No. 2011 (2011), pp.1-12.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-474185
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Kanj, Rouwaida& Joshi, Rajiv& Nassif, Sani. The Impact of Statistical Leakage Models on Design Yield Estimation. VLSI Design. 2011. Vol. 2011, no. 2011, pp.1-12.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-474185
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-474185
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)