![](/images/graphics-bg.png)
Fabricating Pinhole-Free YSZ Sub-Microthin Films by Magnetron Sputtering for Micro-SOFCs
المؤلفون المشاركون
المصدر
International Journal of Electrochemistry
العدد
المجلد 2011، العدد 2011 (31 ديسمبر/كانون الأول 2011)، ص ص. 1-8، 8ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2010-12-16
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Submicron thin yttria stabilized zirconia (YSZ) films were prepared on a variety of substrates with different surface morphologies by magnetron sputtering followed by thermal oxidation.
Pinholes were observed in the films deposited on nanoporous alumina substrates.
Initial dense Y/Zr films developed nanocracks after thermal oxidation on smooth Si wafer substrates.
At optimal sputtering and oxidation conditions, smooth and crack/pore-free films were achieved on Si wafer substrates.
The thin YSZ films exhibited fully ionic conduction with ionic conductivities, and activation energy corroborated well with the values from commercial YSZ plates.
The thin YSZ films can be utilized in Solid Oxide Fuel Cells (SOFCs) for intermediate temperature operations.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Hill, T.& Huang, H.. 2010. Fabricating Pinhole-Free YSZ Sub-Microthin Films by Magnetron Sputtering for Micro-SOFCs. International Journal of Electrochemistry،Vol. 2011, no. 2011, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-474789
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Hill, T.& Huang, H.. Fabricating Pinhole-Free YSZ Sub-Microthin Films by Magnetron Sputtering for Micro-SOFCs. International Journal of Electrochemistry No. 2011 (2011), pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-474789
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Hill, T.& Huang, H.. Fabricating Pinhole-Free YSZ Sub-Microthin Films by Magnetron Sputtering for Micro-SOFCs. International Journal of Electrochemistry. 2010. Vol. 2011, no. 2011, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-474789
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-474789
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)