![](/images/graphics-bg.png)
ADC Production Test Technique Using Low-Resolution Arbitrary Waveform Generator
المؤلفون المشاركون
Chakib, O.
Kerzérho, V.
Azaïs, F.
Comte, M.
Cauvet, P.
Bernard, S.
Renovell, M.
المصدر
العدد
المجلد 2008، العدد 2008 (31 ديسمبر/كانون الأول 2008)، ص ص. 1-8، 8ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2008-04-30
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات
الملخص EN
Standard production test techniques for ADC require an ATE with an arbitrary waveform generator (AWG) with a resolution at least 2 bits higher than the ADC under test resolution.
This requirement is a real issue for the new high-performance ADCs.
This paper proposes a test solution that relaxes this constraint.
The technique allows the test of ADC harmonic distortions using only low-cost ATE.
The method involves two steps.
The first step, called the learning phase, consists in extracting the harmonic contributions from the AWG.
These characteristics are then used during the second step, called the production test, to discriminate the harmonic distortions induced by the ADC under test from the ones created by the generator.
Hardware experimentations are presented to validate the proposed approach.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Kerzérho, V.& Cauvet, P.& Bernard, S.& Azaïs, F.& Renovell, M.& Comte, M.…[et al.]. 2008. ADC Production Test Technique Using Low-Resolution Arbitrary Waveform Generator. VLSI Design،Vol. 2008, no. 2008, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-475075
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Kerzérho, V.…[et al.]. ADC Production Test Technique Using Low-Resolution Arbitrary Waveform Generator. VLSI Design No. 2008 (2008), pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-475075
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Kerzérho, V.& Cauvet, P.& Bernard, S.& Azaïs, F.& Renovell, M.& Comte, M.…[et al.]. ADC Production Test Technique Using Low-Resolution Arbitrary Waveform Generator. VLSI Design. 2008. Vol. 2008, no. 2008, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-475075
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-475075
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)