Optical Response Near the Soft X-Ray Absorption Edges and Structural Studies of Low Optical Contrast System Using Soft X-Ray Resonant Reflectivity
المؤلفون المشاركون
Nayak, Maheswar
Lodha, Gyanendra S.
المصدر
Journal of Atomic, Molecular, and Optical Physics
العدد
المجلد 2011، العدد 2011 (31 ديسمبر/كانون الأول 2011)، ص ص. 1-23، 23ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2011-04-11
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
23
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Fine structure features of energy-dependent atomic scattering factor near the atomic absorption edge, are used for structural analysis of low-Z containing thin film structures.
The scattering contrast undergoes large and abrupt change as the incident photon energy approaches the natural frequency of the atom and is sensitive to variation in atomic composition and atomic density.
Soft X-ray resonant reflectivity is utilized for determination of composition at the buried interfaces with subnanometer sensitivity.
This is demonstrated through characterization of Mo/Si multilayers near Si L-edge.
We also demonstrate the possibility of probing variation of atomic density in thin films, through the characterization of Fe/B4C structure, near B K-edge.
Sensitivity of soft X-ray resonant reflectivity to native oxide is demonstrated through characterization of BN films near B K-edge.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Nayak, Maheswar& Lodha, Gyanendra S.. 2011. Optical Response Near the Soft X-Ray Absorption Edges and Structural Studies of Low Optical Contrast System Using Soft X-Ray Resonant Reflectivity. Journal of Atomic, Molecular, and Optical Physics،Vol. 2011, no. 2011, pp.1-23.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-488097
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Nayak, Maheswar& Lodha, Gyanendra S.. Optical Response Near the Soft X-Ray Absorption Edges and Structural Studies of Low Optical Contrast System Using Soft X-Ray Resonant Reflectivity. Journal of Atomic, Molecular, and Optical Physics No. 2011 (2011), pp.1-23.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-488097
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Nayak, Maheswar& Lodha, Gyanendra S.. Optical Response Near the Soft X-Ray Absorption Edges and Structural Studies of Low Optical Contrast System Using Soft X-Ray Resonant Reflectivity. Journal of Atomic, Molecular, and Optical Physics. 2011. Vol. 2011, no. 2011, pp.1-23.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-488097
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-488097
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر