![](/images/graphics-bg.png)
Y-Function Analysis of the Low Temperature Behavior of Ultrathin Film FD SOI MOSFETs
المؤلفون المشاركون
Chelly, Avraham
Karsenty, Avraham
المصدر
Active and Passive Electronic Components
العدد
المجلد 2014، العدد 2014 (31 ديسمبر/كانون الأول 2014)، ص ص. 1-10، 10ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2014-06-11
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
10
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
The respective transfer characteristics of the ultrathin body (UTB) and gate recessed channel (GRC) device, sharing same W/L ratio but having a channel thickness of 46 nm, and 2.2 nm respectively, were measured at 300 K and at 77 K.
By decreasing the temperature we found that the electrical behaviors of these devices were radically opposite: if for UTB device, the conductivity was increased, the opposite effect was observed for GRC.
The low field electron mobility and series resistance RSD values were extracted using a method based on Y-function for both the temperatures.
If RSD low values were found for UTB, very high values (>1 MΩ) were extracted for GRC.
Surprisingly, for the last device, the effective field mobility is found very low (<1 cm2/Vs) and is decreasing by lowering the temperature.
After having discussed the limits of this analysis.This case study illustrates the advantage of the Y-analysis in discriminating a parameter of great relevance for nanoscale devices and gives a coherent interpretation of an anomalous electrical behavior.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Karsenty, Avraham& Chelly, Avraham. 2014. Y-Function Analysis of the Low Temperature Behavior of Ultrathin Film FD SOI MOSFETs. Active and Passive Electronic Components،Vol. 2014, no. 2014, pp.1-10.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-491438
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Karsenty, Avraham& Chelly, Avraham. Y-Function Analysis of the Low Temperature Behavior of Ultrathin Film FD SOI MOSFETs. Active and Passive Electronic Components No. 2014 (2014), pp.1-10.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-491438
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Karsenty, Avraham& Chelly, Avraham. Y-Function Analysis of the Low Temperature Behavior of Ultrathin Film FD SOI MOSFETs. Active and Passive Electronic Components. 2014. Vol. 2014, no. 2014, pp.1-10.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-491438
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-491438
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)