Quinhydrone Chemical Passivation of a Silicon Surface for Minority Carrier Bulk-Lifetime Measurements
المؤلفون المشاركون
Solcansky, M.
Poruba, Aleš
Vanek, Jiří
المصدر
International Journal of Photoenergy
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-4، 4ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-04-26
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
4
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
For the measurement of the minority carrier bulk-lifetime the characterization method MW-PCD is used, where the result of measurement is the effective carrier lifetime, which is very dependent on the surface recombination velocity and therefore on the quality of a silicon surface passivation.
This work deals with an examination of a different solution types for the chemical passivation of a silicon surface.
Various solutions are tested on silicon wafers for their consequent comparison.
The main purpose is to find optimal solution, which suits the requirements of a time stability and start-up velocity of passivation, reproducibility of the measurements and a possibility of a perfect cleaning of a passivating solution remains from a silicon surface, so that the parameters of a measured silicon wafer will not worsen and there will not be any contamination of the other wafers series in the production after a repetitive return of the measured wafer into the production process.
The cleaning process itself is also a subject of a development.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Solcansky, M.& Vanek, Jiří& Poruba, Aleš. 2012. Quinhydrone Chemical Passivation of a Silicon Surface for Minority Carrier Bulk-Lifetime Measurements. International Journal of Photoenergy،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-494322
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Solcansky, M.…[et al.]. Quinhydrone Chemical Passivation of a Silicon Surface for Minority Carrier Bulk-Lifetime Measurements. International Journal of Photoenergy No. 2012 (2012), pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-494322
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Solcansky, M.& Vanek, Jiří& Poruba, Aleš. Quinhydrone Chemical Passivation of a Silicon Surface for Minority Carrier Bulk-Lifetime Measurements. International Journal of Photoenergy. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-494322
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-494322
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر