![](/images/graphics-bg.png)
Preparation and Characterization of (Aun-SnO2SiO2SiAl) MIS Device for Optoelectronic Application
المؤلفون المشاركون
Abdul Muhsien, Marwa
Agool, Ibrahim R.
Salem, Evan T.
المصدر
International Journal of Optics
العدد
المجلد 2013، العدد 2013 (31 ديسمبر/كانون الأول 2013)، ص ص. 1-9، 9ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2013-12-28
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
9
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
SnO2 thin films were prepared by using rapid thermal oxidation (RTO) of Sn at oxidation temperature 873 K and oxidation time 90 sec on semiconductor n-type and p-type silicon substrate.
In order to characterize the prepared device, the electrical properties have been measured which revealed that the barrier height is greatly depended on interfacial layer thickness (SiO2).
The value of peak response (n-SnO2/SiO2/n-Si) device was 0.16 A/W which is greater than that of (n-SnO2/SiO2/p-Si) device whose value was 0.12 A/W, while the rise time was found to be shorter.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Abdul Muhsien, Marwa& Salem, Evan T.& Agool, Ibrahim R.. 2013. Preparation and Characterization of (Aun-SnO2SiO2SiAl) MIS Device for Optoelectronic Application. International Journal of Optics،Vol. 2013, no. 2013, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-496256
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Abdul Muhsien, Marwa…[et al.]. Preparation and Characterization of (Aun-SnO2SiO2SiAl) MIS Device for Optoelectronic Application. International Journal of Optics No. 2013 (2013), pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-496256
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Abdul Muhsien, Marwa& Salem, Evan T.& Agool, Ibrahim R.. Preparation and Characterization of (Aun-SnO2SiO2SiAl) MIS Device for Optoelectronic Application. International Journal of Optics. 2013. Vol. 2013, no. 2013, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-496256
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-496256
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)