Room-Temperature Hysteresis in a Hole-Based Quantum Dot Memory Structure

المؤلفون المشاركون

Bonato, Leo
Nowozin, Tobias
Balamash, Abdullah
Ajour, Mohammed N.
Bimberg, Dieter
Daqrouq, Khaled
Narodovitch, Michael

المصدر

Journal of Nanotechnology

العدد

المجلد 2013، العدد 2013 (31 ديسمبر/كانون الأول 2013)، ص ص. 1-4، 4ص.

الناشر

Hindawi Publishing Corporation

تاريخ النشر

2013-08-24

دولة النشر

مصر

عدد الصفحات

4

التخصصات الرئيسية

العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات
الكيمياء

الملخص EN

We demonstrate a memory effect in self-assembled InAs/Al0.9Ga0.1As quantum dots (QDs) near room temperature.

The QD layer is embedded into a modulation-doped field-effect transistor (MODFET) which allows to charge and discharge the QDs and read out the logic state of the QDs.

The hole storage times in the QDs decrease from seconds at 200 K down to milliseconds at room temperature.

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

Nowozin, Tobias& Narodovitch, Michael& Bonato, Leo& Bimberg, Dieter& Ajour, Mohammed N.& Daqrouq, Khaled…[et al.]. 2013. Room-Temperature Hysteresis in a Hole-Based Quantum Dot Memory Structure. Journal of Nanotechnology،Vol. 2013, no. 2013, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-498972

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

Nowozin, Tobias…[et al.]. Room-Temperature Hysteresis in a Hole-Based Quantum Dot Memory Structure. Journal of Nanotechnology No. 2013 (2013), pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-498972

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

Nowozin, Tobias& Narodovitch, Michael& Bonato, Leo& Bimberg, Dieter& Ajour, Mohammed N.& Daqrouq, Khaled…[et al.]. Room-Temperature Hysteresis in a Hole-Based Quantum Dot Memory Structure. Journal of Nanotechnology. 2013. Vol. 2013, no. 2013, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-498972

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

الإنجليزية

الملاحظات

Includes bibliographical references

رقم السجل

BIM-498972