![](/images/graphics-bg.png)
Detection and Localization of Defects in Monocrystalline Silicon Solar Cell
المؤلفون المشاركون
Grmela, L.
Škarvada, P.
Tománek, P.
Macků, R.
المصدر
Advances in Optical Technologies
العدد
المجلد 2010، العدد 2010 (31 ديسمبر/كانون الأول 2010)، ص ص. 1-5، 5ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2010-05-30
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات
الملخص EN
Near-surface defects in solar cell wafer have undesirable influence upon device properties, as its efficiency and lifetime.
When reverse-bias voltage is applied to the wafer, a magnitude of electric signals from defects can be measured electronically, but the localization of defects is difficult using classical optical far-field methods.
Therefore, the paper introduces a novel combination of electric and optical methods showing promise of being useful in detection and localization of defects with resolution of 250 nm using near-field nondestructive characterization techniques.
The results of mapped topography, local surface reflection, and local light to electric energy conversion measurement in areas with small defects strongly support the development and further evaluation of the technique.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Tománek, P.& Škarvada, P.& Macků, R.& Grmela, L.. 2010. Detection and Localization of Defects in Monocrystalline Silicon Solar Cell. Advances in Optical Technologies،Vol. 2010, no. 2010, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-499462
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Tománek, P.…[et al.]. Detection and Localization of Defects in Monocrystalline Silicon Solar Cell. Advances in Optical Technologies No. 2010 (2010), pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-499462
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Tománek, P.& Škarvada, P.& Macků, R.& Grmela, L.. Detection and Localization of Defects in Monocrystalline Silicon Solar Cell. Advances in Optical Technologies. 2010. Vol. 2010, no. 2010, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-499462
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-499462
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)