Vapor Phase Sensing Using Metal Nanorod Thin Films Grown by Cryogenic Oblique Angle Deposition
المؤلفون المشاركون
Ju, Dongquan
Sarangan, Andrew M.
Niu, Xiaoxu
Shah, Piyush
المصدر
العدد
المجلد 2013، العدد 2013 (31 ديسمبر/كانون الأول 2013)، ص ص. 1-6، 6ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2013-12-23
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
6
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
We demonstrate the chemical sensing capability of silver nanostructured films grown by cryogenic oblique angle deposition (OAD).
For comparison, the films are grown side by side at cryogenic (~100 K) and at room temperature (~300 K) by e-beam evaporation.
Based on the observed structural differences, it was hypothesized that the cryogenic OAD silver films should show an increased surface enhanced Raman scattering (SERS) sensitivity.
COMSOL simulation results are presented to validate this hypothesis.
Experimental SERS results of 4-aminobenzenethiol (4-ABT) Raman test probe molecules in vapor phase show good agreement with the simulation and indicate promising SERS applications for these nanostructured thin films.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Shah, Piyush& Ju, Dongquan& Niu, Xiaoxu& Sarangan, Andrew M.. 2013. Vapor Phase Sensing Using Metal Nanorod Thin Films Grown by Cryogenic Oblique Angle Deposition. Journal of Sensors،Vol. 2013, no. 2013, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-500905
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Shah, Piyush…[et al.]. Vapor Phase Sensing Using Metal Nanorod Thin Films Grown by Cryogenic Oblique Angle Deposition. Journal of Sensors No. 2013 (2013), pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-500905
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Shah, Piyush& Ju, Dongquan& Niu, Xiaoxu& Sarangan, Andrew M.. Vapor Phase Sensing Using Metal Nanorod Thin Films Grown by Cryogenic Oblique Angle Deposition. Journal of Sensors. 2013. Vol. 2013, no. 2013, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-500905
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-500905
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر