Thickness Dependence of Optoelectrical Properties of Mo-Doped In2O3 Films Deposited on Polyethersulfone Substrates by Ion-Beam-Assisted Evaporation
المؤلفون المشاركون
Liou, Yeuh-Yeong
Liu, Chi-Chang
He, Ju-Liang
Jeng, Yaug-Fea
Kuo, Chin-Chiuan
Lin, Chung-Chih
المصدر
العدد
المجلد 2010، العدد 2010 (31 ديسمبر/كانون الأول 2010)، ص ص. 1-7، 7ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2010-12-01
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات
الكيمياء
هندسة مدنية
الملخص EN
Indium molybdenum oxide (IMO) films were deposited onto the polyethersulfone (PES) substrates by ion-beam-assisted evaporation (IBAE) deposition at low temperature in this study.
The effects of film thickness on their optical and electrical properties were investigated.
The results show that the deposited IMO films exhibit a preferred orientation of B(222).
The electrical resistivity of the deposited film initially reduces then subsequently increases with film thickness.
The IMO film with the lowest resistivity of 7.61 × 10−4 ohm-cm has been achieved when the film thickness is 120 nm.
It exhibits a satisfactory surface roughness Rpv of 8.75 nm and an average visible transmittance of 78.7%.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Kuo, Chin-Chiuan& Liu, Chi-Chang& Jeng, Yaug-Fea& Lin, Chung-Chih& Liou, Yeuh-Yeong& He, Ju-Liang. 2010. Thickness Dependence of Optoelectrical Properties of Mo-Doped In2O3 Films Deposited on Polyethersulfone Substrates by Ion-Beam-Assisted Evaporation. Journal of Nanomaterials،Vol. 2010, no. 2010, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-502376
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Kuo, Chin-Chiuan…[et al.]. Thickness Dependence of Optoelectrical Properties of Mo-Doped In2O3 Films Deposited on Polyethersulfone Substrates by Ion-Beam-Assisted Evaporation. Journal of Nanomaterials No. 2010 (2010), pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-502376
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Kuo, Chin-Chiuan& Liu, Chi-Chang& Jeng, Yaug-Fea& Lin, Chung-Chih& Liou, Yeuh-Yeong& He, Ju-Liang. Thickness Dependence of Optoelectrical Properties of Mo-Doped In2O3 Films Deposited on Polyethersulfone Substrates by Ion-Beam-Assisted Evaporation. Journal of Nanomaterials. 2010. Vol. 2010, no. 2010, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-502376
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-502376
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر