SCLC Degradation in 980 nm Pump Laser by Using Electrical Noise

المؤلفون المشاركون

Asaad, I.
Orsal, B.

المصدر

ISRN Optics

العدد

المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-4، 4ص.

الناشر

Hindawi Publishing Corporation

تاريخ النشر

2012-01-09

دولة النشر

مصر

عدد الصفحات

4

التخصصات الرئيسية

الفيزياء

الملخص EN

The knowledge of the noise levels is important for pump laser diodes as it allows to study and to locate the noise sources and their origin.

980 nm fresh and aged pump lasers have been characterized by using electrical noise measurements.

At 10 Hz, the spectra are dominated by 1/fm (1≤m≤2) noise.

Current noise spectral density (CNSD) is dominated by IL m (1

The trapping defect density near the n+n- and p+p- interfaces is related to pinching of the space-charge-limited current (SCLC) effect.

An excess electrical noise due to longitudinal mode hopping is correlated with optical power fluctuations.

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

Orsal, B.& Asaad, I.. 2012. SCLC Degradation in 980 nm Pump Laser by Using Electrical Noise. ISRN Optics،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-502522

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

Orsal, B.& Asaad, I.. SCLC Degradation in 980 nm Pump Laser by Using Electrical Noise. ISRN Optics No. 2012 (2012), pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-502522

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

Orsal, B.& Asaad, I.. SCLC Degradation in 980 nm Pump Laser by Using Electrical Noise. ISRN Optics. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-502522

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

الإنجليزية

الملاحظات

Includes bibliographical references

رقم السجل

BIM-502522