SCLC Degradation in 980 nm Pump Laser by Using Electrical Noise
المؤلفون المشاركون
المصدر
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-4، 4ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-01-09
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
4
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
The knowledge of the noise levels is important for pump laser diodes as it allows to study and to locate the noise sources and their origin.
980 nm fresh and aged pump lasers have been characterized by using electrical noise measurements.
At 10 Hz, the spectra are dominated by 1/fm (1≤m≤2) noise.
Current noise spectral density (CNSD) is dominated by IL m (1 The trapping defect density near the n+n- and p+p- interfaces is related to pinching of the space-charge-limited current (SCLC) effect. An excess electrical noise due to longitudinal mode hopping is correlated with optical power fluctuations.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Orsal, B.& Asaad, I.. 2012. SCLC Degradation in 980 nm Pump Laser by Using Electrical Noise. ISRN Optics،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-502522
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Orsal, B.& Asaad, I.. SCLC Degradation in 980 nm Pump Laser by Using Electrical Noise. ISRN Optics No. 2012 (2012), pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-502522
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Orsal, B.& Asaad, I.. SCLC Degradation in 980 nm Pump Laser by Using Electrical Noise. ISRN Optics. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-502522
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-502522
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر