The Effect of Residual Stress on the Electromechanical Behavior of Electrostatic Microactuators

المؤلف

Hsu, Ming-Hung

المصدر

Active and Passive Electronic Components

العدد

المجلد 2008، العدد 2008 (31 ديسمبر/كانون الأول 2008)، ص ص. 1-9، 9ص.

الناشر

Hindawi Publishing Corporation

تاريخ النشر

2009-03-16

دولة النشر

مصر

عدد الصفحات

9

التخصصات الرئيسية

الفيزياء

الملخص EN

This work simulates the nonlinear electromechanical behavior of different electrostatic microactuators.

It applies the differential quadrature method, Hamilton's principle, and Wilson-θ integration method to derive the equations of motion of electrostatic microactuators and find a solution to these equations.

Nonlinear equation difficulties are overcome by using the differential quadrature method.

The stresses of electrostatic actuators are determined, and the residual stress effects of electrostatic microactuators are simulated.

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

Hsu, Ming-Hung. 2009. The Effect of Residual Stress on the Electromechanical Behavior of Electrostatic Microactuators. Active and Passive Electronic Components،Vol. 2008, no. 2008, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-506931

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

Hsu, Ming-Hung. The Effect of Residual Stress on the Electromechanical Behavior of Electrostatic Microactuators. Active and Passive Electronic Components No. 2008 (2008), pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-506931

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

Hsu, Ming-Hung. The Effect of Residual Stress on the Electromechanical Behavior of Electrostatic Microactuators. Active and Passive Electronic Components. 2009. Vol. 2008, no. 2008, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-506931

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

الإنجليزية

الملاحظات

Includes bibliographical references

رقم السجل

BIM-506931