![](/images/graphics-bg.png)
Formal Specification Based Automatic Test Generation for Embedded Network Systems
المؤلفون المشاركون
Choi, Eun Hye
Ando, Takahiro
Yoshisaka, Keiichi
Tang, Nguyen Van
Nishihara, Hideaki
Mizuno, Osamu
Aoki, Masahiro
Ohsaki, Hitoshi
المصدر
Journal of Applied Mathematics
العدد
المجلد 2014، العدد 2014 (31 ديسمبر/كانون الأول 2014)، ص ص. 1-21، 21ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2014-05-11
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
21
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Embedded systems have become increasingly connected and communicate with each other, forming large-scaled and complicated network systems.
To make their design and testing more reliable and robust, this paper proposes a formal specification language called SENS and a SENS-based automatic test generation tool called TGSENS.
Our approach is summarized as follows: (1) A user describes requirements of target embedded network systems by logical property-based constraints using SENS.
(2) Given SENS specifications, test cases are automatically generated using a SAT-based solver.
Filtering mechanisms to select efficient test cases are also available in our tool.
(3) In addition, given a testing goal by the user, test sequences are automatically extracted from exhaustive test cases.
We’ve implemented our approach and conducted several experiments on practical case studies.
Through the experiments, we confirmed the efficiency of our approach in design and test generation of real embedded air-conditioning network systems.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Choi, Eun Hye& Nishihara, Hideaki& Ando, Takahiro& Tang, Nguyen Van& Aoki, Masahiro& Yoshisaka, Keiichi…[et al.]. 2014. Formal Specification Based Automatic Test Generation for Embedded Network Systems. Journal of Applied Mathematics،Vol. 2014, no. 2014, pp.1-21.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-507348
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Choi, Eun Hye…[et al.]. Formal Specification Based Automatic Test Generation for Embedded Network Systems. Journal of Applied Mathematics No. 2014 (2014), pp.1-21.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-507348
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Choi, Eun Hye& Nishihara, Hideaki& Ando, Takahiro& Tang, Nguyen Van& Aoki, Masahiro& Yoshisaka, Keiichi…[et al.]. Formal Specification Based Automatic Test Generation for Embedded Network Systems. Journal of Applied Mathematics. 2014. Vol. 2014, no. 2014, pp.1-21.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-507348
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-507348
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)