![](/images/graphics-bg.png)
Suitability of Various Low-Power Testing Techniques for IP Core-Based SoC : A Survey
المؤلفون المشاركون
Devashrayee, Niranjan
Dasgupta, Kankar S.
Mehta, Usha S.
المصدر
العدد
المجلد 2011، العدد 2011 (31 ديسمبر/كانون الأول 2011)، ص ص. 1-7، 7ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2011-01-19
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات
الملخص EN
Test power is the major issue for current generation VLSI testing.
It has become the biggest concern for today's SoC.
While reducing the design efforts, the modular design approach in SoC (i.e., use of IP cores in SoC) has further exaggerated the test power issue.
It is not easy to select an effective low-power testing strategy from a large pool of diverse available techniques.
To find the proper solutions for test power reduction strategy for IP core-based SoC, in this paper, starting from the terminology and models for power consumption during test, the state of the art in low-power testing is presented.
The paper contains the detailed survey on various power reduction techniques proposed for all aspects of testing like external testing, Built-In Self-Test techniques, and the advances in DFT techniques emphasizing low power.
Further, all the available low-power testing techniques are strongly analyzed for their suitability to IP core-based SoC.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Mehta, Usha S.& Dasgupta, Kankar S.& Devashrayee, Niranjan. 2011. Suitability of Various Low-Power Testing Techniques for IP Core-Based SoC : A Survey. VLSI Design،Vol. 2011, no. 2011, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-510617
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Mehta, Usha S.…[et al.]. Suitability of Various Low-Power Testing Techniques for IP Core-Based SoC : A Survey. VLSI Design No. 2011 (2011), pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-510617
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Mehta, Usha S.& Dasgupta, Kankar S.& Devashrayee, Niranjan. Suitability of Various Low-Power Testing Techniques for IP Core-Based SoC : A Survey. VLSI Design. 2011. Vol. 2011, no. 2011, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-510617
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-510617
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)