![](/images/graphics-bg.png)
Surface State Capture Cross-Section at the Interface between Silicon and Hafnium Oxide
المؤلف
المصدر
Advances in Materials Science and Engineering
العدد
المجلد 2013، العدد 2013 (31 ديسمبر/كانون الأول 2013)، ص ص. 1-5، 5ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2013-11-13
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات
الملخص EN
The interfacial properties between silicon and hafnium oxide (HfO2) are explored by the gated-diode method and the subthreshold measurement.
The density of interface-trapped charges, the current induced by surface defect centers, the surface recombination velocity, and the surface state capture cross-section are obtained in this work.
Among the interfacial properties, the surface state capture cross-section is approximately constant even if the postdeposition annealing condition is changed.
This effective capture cross-section of surface states is about 2.4 × 10−15 cm2, which may be an inherent nature in the HfO2/Si interface.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Chiu, Fu-Chien. 2013. Surface State Capture Cross-Section at the Interface between Silicon and Hafnium Oxide. Advances in Materials Science and Engineering،Vol. 2013, no. 2013, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-510738
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Chiu, Fu-Chien. Surface State Capture Cross-Section at the Interface between Silicon and Hafnium Oxide. Advances in Materials Science and Engineering No. 2013 (2013), pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-510738
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Chiu, Fu-Chien. Surface State Capture Cross-Section at the Interface between Silicon and Hafnium Oxide. Advances in Materials Science and Engineering. 2013. Vol. 2013, no. 2013, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-510738
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-510738
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)