Preparation and the study optical and electrical properties of thin films for optoelectronic applications
المؤلفون المشاركون
Jraiz, Ammar H.
Yahya, Khalid Z.
Nayif, Adi Muhsin
المصدر
Engineering and Technology Journal
العدد
المجلد 26، العدد 7 (31 يوليو/تموز 2008)، ص ص. 1-5، 5ص.
الناشر
تاريخ النشر
2008-07-31
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص AR
تم تحضير غشاء رقيق موصل كهربائيا شفاف من 3 250° ) تم دراسة خواص البناء الداخلي C/25min) في الهواء لغشاء الانديوم تحت حالة 3.6 ) في )eV.
والكهربائية والبصرية للغشاء ووجد أن فجوة الطاقة للانتقال المباشر كانت 20Ω/□ 2.5 ) ومقاومة سطحية واطئة )eV حين كانت فجوة الطاقة للانتقال غير المباشر .(31) cm2.V-1s- بدون أي تلدين مسبق .
أما حركية نواقل الشحنة لهذا الغشاء فكانت
الملخص EN
Conductive transparent In2O3 thin films with (222) preferred orientation were prepared by thermal oxidation (TO) in static air of indium thin films at condition (250°C / 25 min).
Detailed structural, electrical, and optical characteristics of the film are presented.
The data are interpreted to give a direct band gap of (3.6) eV and indirect band gap of (2.5) eV.
The In2O3 film has sheet resistance as low as (20) Ω / □.
In absence of any post-deposition annealing conditions.
The mobility of these films was estimated to be (31) cm2.
V-1.
s-1.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Yahya, Khalid Z.& Jraiz, Ammar H.& Nayif, Adi Muhsin. 2008. Preparation and the study optical and electrical properties of thin films for optoelectronic applications. Engineering and Technology Journal،Vol. 26, no. 7, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-525550
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Yahya, Khalid Z.…[et al.]. Preparation and the study optical and electrical properties of thin films for optoelectronic applications. Engineering and Technology Journal Vol. 26, no. 7 (2008), pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-525550
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Yahya, Khalid Z.& Jraiz, Ammar H.& Nayif, Adi Muhsin. Preparation and the study optical and electrical properties of thin films for optoelectronic applications. Engineering and Technology Journal. 2008. Vol. 26, no. 7, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-525550
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes appendix.
رقم السجل
BIM-525550
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر