Characterization of CdO film AFM and XRD diffraction using rietveld refinement
العناوين الأخرى
ميزات غشاء اوكسيد لكادميوم بوساطة مجهر القوة الذرية و حيود الأشعة السينية بإستخدام تصفية ريتفيلد
المؤلفون المشاركون
al-Zahir, Tariq Abd al-Rida
Khudayr, Ziyad Tariq
المصدر
Ibn al-Haitham Journal for Pure and Applied Science
العدد
المجلد 27، العدد 1 (30 إبريل/نيسان 2014)، ص ص. 83-92، 10ص.
الناشر
جامعة بغداد كلية التربية ابن الهيثم
تاريخ النشر
2014-04-30
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
10
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص AR
حضر غشاء نانوي من أوكسيد الكادميوم بتقنية التحليل الحراري.
و تم تلدينه إلى 200 و 300 و 450 درجة مئوية لثلاث ساعات.
استعمل AFM و XRD لتحليل التركيب و التركيب المايكروي.
وجد أن معدل الحجم الحبيبي 32.5 nm، و أن التوجيه التفضيلي على طول السطح (200) و المعامل TC هو 1.79 للغشاء المحضر.
أما TC للأغشية الملدنة فمناظرة لدرجات حرارة التلدين و هي 1.79، 1.644، 1.763 و 1.79 على التوالي.
و الحجم الحبيبي المناظر 57، 58، 51 و 51 و حسب تغير الإجهاد مع درجة حرارة التدين و كان ضمن المدى 0.157-0.376 GPa.
الملخص EN
Nano particles of Cadmium Oxide (CdO) thin films were prepared by spray pyrolysis technique.
The synthesized film is annealed at (200 , 300, 450) o C for 3 hours .
The XRD and AFM for the analysis of its structural and micro-structural characteristic has been preformed.
The average grain size was found to be about 32.50 nm .There is a preferred orientation along (200) plane with texture coefficient 1.79, 1.644, 1.763 and 1.792 for deposited and annealed films, corresponding to grain size 57,58 ,51 and 51 nm.
The variations of stress with temperature is ranged from 0.157 - 0.376 GPa .
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
al-Zahir, Tariq Abd al-Rida& Khudayr, Ziyad Tariq. 2014. Characterization of CdO film AFM and XRD diffraction using rietveld refinement. Ibn al-Haitham Journal for Pure and Applied Science،Vol. 27, no. 1, pp.83-92.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-542871
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
al-Zahir, Tariq Abd al-Rida& Khudayr, Ziyad Tariq. Characterization of CdO film AFM and XRD diffraction using rietveld refinement. Ibn al-Haitham Journal for Pure and Applied Science Vol. 27, no. 1 (Apr. 2014), pp.83-92.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-542871
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
al-Zahir, Tariq Abd al-Rida& Khudayr, Ziyad Tariq. Characterization of CdO film AFM and XRD diffraction using rietveld refinement. Ibn al-Haitham Journal for Pure and Applied Science. 2014. Vol. 27, no. 1, pp.83-92.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-542871
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes appendices : p. 88-91
رقم السجل
BIM-542871
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر