Characterization of CdO film AFM and XRD diffraction using rietveld refinement
Other Title(s)
ميزات غشاء اوكسيد لكادميوم بوساطة مجهر القوة الذرية و حيود الأشعة السينية بإستخدام تصفية ريتفيلد
Joint Authors
al-Zahir, Tariq Abd al-Rida
Khudayr, Ziyad Tariq
Source
Ibn al-Haitham Journal for Pure and Applied Science
Issue
Vol. 27, Issue 1 (30 Apr. 2014), pp.83-92, 10 p.
Publisher
University of Baghdad College of Education for Pure Science / Ibn al-Haitham
Publication Date
2014-04-30
Country of Publication
Iraq
No. of Pages
10
Main Subjects
Topics
Abstract AR
حضر غشاء نانوي من أوكسيد الكادميوم بتقنية التحليل الحراري.
و تم تلدينه إلى 200 و 300 و 450 درجة مئوية لثلاث ساعات.
استعمل AFM و XRD لتحليل التركيب و التركيب المايكروي.
وجد أن معدل الحجم الحبيبي 32.5 nm، و أن التوجيه التفضيلي على طول السطح (200) و المعامل TC هو 1.79 للغشاء المحضر.
أما TC للأغشية الملدنة فمناظرة لدرجات حرارة التلدين و هي 1.79، 1.644، 1.763 و 1.79 على التوالي.
و الحجم الحبيبي المناظر 57، 58، 51 و 51 و حسب تغير الإجهاد مع درجة حرارة التدين و كان ضمن المدى 0.157-0.376 GPa.
Abstract EN
Nano particles of Cadmium Oxide (CdO) thin films were prepared by spray pyrolysis technique.
The synthesized film is annealed at (200 , 300, 450) o C for 3 hours .
The XRD and AFM for the analysis of its structural and micro-structural characteristic has been preformed.
The average grain size was found to be about 32.50 nm .There is a preferred orientation along (200) plane with texture coefficient 1.79, 1.644, 1.763 and 1.792 for deposited and annealed films, corresponding to grain size 57,58 ,51 and 51 nm.
The variations of stress with temperature is ranged from 0.157 - 0.376 GPa .
American Psychological Association (APA)
al-Zahir, Tariq Abd al-Rida& Khudayr, Ziyad Tariq. 2014. Characterization of CdO film AFM and XRD diffraction using rietveld refinement. Ibn al-Haitham Journal for Pure and Applied Science،Vol. 27, no. 1, pp.83-92.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-542871
Modern Language Association (MLA)
al-Zahir, Tariq Abd al-Rida& Khudayr, Ziyad Tariq. Characterization of CdO film AFM and XRD diffraction using rietveld refinement. Ibn al-Haitham Journal for Pure and Applied Science Vol. 27, no. 1 (Apr. 2014), pp.83-92.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-542871
American Medical Association (AMA)
al-Zahir, Tariq Abd al-Rida& Khudayr, Ziyad Tariq. Characterization of CdO film AFM and XRD diffraction using rietveld refinement. Ibn al-Haitham Journal for Pure and Applied Science. 2014. Vol. 27, no. 1, pp.83-92.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-542871
Data Type
Journal Articles
Language
English
Notes
Includes appendices : p. 88-91
Record ID
BIM-542871
