![](/images/graphics-bg.png)
Characterization of the copper oxide thin films deposited by DC sputtering technique
العناوين الأخرى
دراسة خصائص اغشيه أوكسيد النحاس المحضرة بطريقة الترذيذ للتيار المستمر
المؤلفون المشاركون
Said, Saba N.
Abbas, Amin J.
Khalaf, Muhammad Khammas
المصدر
Engineering and Technology Journal
العدد
المجلد 32، العدد 4B(s) (30 إبريل/نيسان 2014)، ص ص. 770-776، 7ص.
الناشر
تاريخ النشر
2014-04-30
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص EN
Nanocrystalline Copper Oxide films were deposited on glass substrates by plasma dc sputtering.
The effected of discharge current on the structural and optical properties of sputtered films were studied .X-ray diffraction peak of Cu2O (111) and Cu4O3 (112) direction was observed at discharge current of (15-30) mA when annealed at 500 0C for 2 h.
The optical energy gap for the prepared films is estimated to be in (2.05- 2.3) eV range.
It was found that the effect of preparation conditions on thin films thickness strongly depends on the discharge current of argon plasma.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Khalaf, Muhammad Khammas& Said, Saba N.& Abbas, Amin J.. 2014. Characterization of the copper oxide thin films deposited by DC sputtering technique. Engineering and Technology Journal،Vol. 32, no. 4B(s), pp.770-776.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-627930
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Khalaf, Muhammad Khammas…[et al.]. Characterization of the copper oxide thin films deposited by DC sputtering technique. Engineering and Technology Journal Vol. 32, no. 4B(s) (2014), pp.770-776.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-627930
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Khalaf, Muhammad Khammas& Said, Saba N.& Abbas, Amin J.. Characterization of the copper oxide thin films deposited by DC sputtering technique. Engineering and Technology Journal. 2014. Vol. 32, no. 4B(s), pp.770-776.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-627930
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 775-776
رقم السجل
BIM-627930
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)