The effect of annealing on the structural and optical properties of copper oxide thin films prepared by silar method
العناوين الأخرى
تأثير التلدين على الخواص التركيبية و البصرية لأغشية أوكسيد النحاس المحضر بطريقة الترسيب بالطبقة الأيونية المتعاقبة SILAR
المؤلفون المشاركون
Nasir, Ilham Hani
Ujayl, Haydar Muhammad
Jabr, Ashwaq Abd Husayn
Butrus, Shadha Shamun
المصدر
العدد
المجلد 11، العدد 2(s) (30 يونيو/حزيران 2014)، ص ص. 718-729، 12ص.
الناشر
جامعة بغداد كلية العلوم للبنات
تاريخ النشر
2014-06-30
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
12
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص AR
رسبت أغشية أوكسيد النحاس على قواعد زجاجية باستخدام طريقة الترسيب بالطبقة الأيونية المتعاقبة (STLAR) بدرجة حرارة الغرفة.
اسمك الأغشية كانت بحدود 0.45 μm.
لدنت أغشية أوكسيد النحاس في الهواء بدرجات حرارة مختلفة (200, 300 and 400) °C لمدة 45 دقيقة.
شخصت الخواص التركيبية باستخدام حيود الأشعة السينية (XRD) و تبين من نمط حيود الأشعة السينية أن المادة متعددة التبلور و قد تم حساب الحجم الحبيبي باستخدام نمط الحيود و تبين ازدياد الحجم الحبيبي بازدياد درجة حرارة التلدين.
كذلك تم استخدام المجهر البصري النافذ و مجهر القوى الذرية.
كانت قيمة فجوة الطاقة المباشرة للعينة بدون تلدين (2.2) الكترون فولت و القيم (1.4 ,1.5 ,2) الكترون فولت لدرجات حرارة تلدين تتراوح ما بين (200, 300, 400) °C على التوالي.
الملخص EN
Copper oxide thin films were deposited on glass substrate using Successive Ionic Layer Adsorption and Reaction (SILAR) method at room temperature.
The thickness of the thin films was around 0.43μm.Copper oxide thin films were annealed in air at (200, 300 and 400°C for 45min.The film structure properties were characterized by x-ray diffraction (XRD).
XRD patterns indicated the presence of polycrystalline CuO.
The average grain size is calculated from the X-rays pattern, it is found that the grain size increased with increasing annealing temperature.
Optical transmitter microscope (OTM) and atomic force microscope (AFM) was also used.
Direct band gap values of 2.2 eV for an annealed sample and (2, 1.5, 1.4) eV at 200, 300,400oC respectively
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Ujayl, Haydar Muhammad& Butrus, Shadha Shamun& Jabr, Ashwaq Abd Husayn& Nasir, Ilham Hani. 2014. The effect of annealing on the structural and optical properties of copper oxide thin films prepared by silar method. Baghdad Science Journal،Vol. 11, no. 2(s), pp.718-729.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-644671
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Ujayl, Haydar Muhammad…[et al.]. The effect of annealing on the structural and optical properties of copper oxide thin films prepared by silar method. Baghdad Science Journal Vol. 11, no. 2 (2014), pp.718-729.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-644671
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Ujayl, Haydar Muhammad& Butrus, Shadha Shamun& Jabr, Ashwaq Abd Husayn& Nasir, Ilham Hani. The effect of annealing on the structural and optical properties of copper oxide thin films prepared by silar method. Baghdad Science Journal. 2014. Vol. 11, no. 2(s), pp.718-729.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-644671
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 728
رقم السجل
BIM-644671
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر