The effect of annealing on the structural and optical properties of copper oxide thin films prepared by silar method

Other Title(s)

تأثير التلدين على الخواص التركيبية و البصرية لأغشية أوكسيد النحاس المحضر بطريقة الترسيب بالطبقة الأيونية المتعاقبة SILAR

Joint Authors

Nasir, Ilham Hani
Ujayl, Haydar Muhammad
Jabr, Ashwaq Abd Husayn
Butrus, Shadha Shamun

Source

Baghdad Science Journal

Issue

Vol. 11, Issue 2(s) (30 Jun. 2014), pp.718-729, 12 p.

Publisher

University of Baghdad College of Science for Women

Publication Date

2014-06-30

Country of Publication

Iraq

No. of Pages

12

Main Subjects

Materials Science , Minerals

Topics

Abstract AR

رسبت أغشية أوكسيد النحاس على قواعد زجاجية باستخدام طريقة الترسيب بالطبقة الأيونية المتعاقبة (STLAR) بدرجة حرارة الغرفة.

اسمك الأغشية كانت بحدود 0.45 μm.

لدنت أغشية أوكسيد النحاس في الهواء بدرجات حرارة مختلفة (200, 300 and 400) °C لمدة 45 دقيقة.

شخصت الخواص التركيبية باستخدام حيود الأشعة السينية (XRD) و تبين من نمط حيود الأشعة السينية أن المادة متعددة التبلور و قد تم حساب الحجم الحبيبي باستخدام نمط الحيود و تبين ازدياد الحجم الحبيبي بازدياد درجة حرارة التلدين.

كذلك تم استخدام المجهر البصري النافذ و مجهر القوى الذرية.

كانت قيمة فجوة الطاقة المباشرة للعينة بدون تلدين (2.2) الكترون فولت و القيم (1.4 ,1.5 ,2) الكترون فولت لدرجات حرارة تلدين تتراوح ما بين (200, 300, 400) °C على التوالي.

Abstract EN

Copper oxide thin films were deposited on glass substrate using Successive Ionic Layer Adsorption and Reaction (SILAR) method at room temperature.

The thickness of the thin films was around 0.43μm.Copper oxide thin films were annealed in air at (200, 300 and 400°C for 45min.The film structure properties were characterized by x-ray diffraction (XRD).

XRD patterns indicated the presence of polycrystalline CuO.

The average grain size is calculated from the X-rays pattern, it is found that the grain size increased with increasing annealing temperature.

Optical transmitter microscope (OTM) and atomic force microscope (AFM) was also used.

Direct band gap values of 2.2 eV for an annealed sample and (2, 1.5, 1.4) eV at 200, 300,400oC respectively

American Psychological Association (APA)

Ujayl, Haydar Muhammad& Butrus, Shadha Shamun& Jabr, Ashwaq Abd Husayn& Nasir, Ilham Hani. 2014. The effect of annealing on the structural and optical properties of copper oxide thin films prepared by silar method. Baghdad Science Journal،Vol. 11, no. 2(s), pp.718-729.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-644671

Modern Language Association (MLA)

Ujayl, Haydar Muhammad…[et al.]. The effect of annealing on the structural and optical properties of copper oxide thin films prepared by silar method. Baghdad Science Journal Vol. 11, no. 2 (2014), pp.718-729.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-644671

American Medical Association (AMA)

Ujayl, Haydar Muhammad& Butrus, Shadha Shamun& Jabr, Ashwaq Abd Husayn& Nasir, Ilham Hani. The effect of annealing on the structural and optical properties of copper oxide thin films prepared by silar method. Baghdad Science Journal. 2014. Vol. 11, no. 2(s), pp.718-729.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-644671

Data Type

Journal Articles

Language

English

Notes

Includes bibliographical references : p. 728

Record ID

BIM-644671