Nanostructure NiO films prepared by PLD and their optoelectronic properties
العناوين الأخرى
أغشية أوكسيد النيكل النانوية المحضرة بطريقة الترسيب بالليزر النبضي و خصائصها الكهرو بصرية
المؤلفون المشاركون
Jbair, Dua S.
Simon, Jihan A.
Khashshan, Khawlah S.
المصدر
Engineering and Technology Journal
العدد
المجلد 33، العدد 5B (31 مايو/أيار 2015)، ص ص. 951-959، 9ص.
الناشر
تاريخ النشر
2015-05-31
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
9
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص EN
NiO thin films have compounded by pulsed laser deposition on glass and silicon (111) substrates, employing Q-switching Nd:YAG laser.
Structure, grain size and optical properties have analyzed by using FTIR, AFM and UV-VIS spectroscopy.
FTIR spectra conformed of NiO bonding.
AFM images show the particle size about ~66nm.
The optical transmission results premiered the transparency of the NiO films is greater than 70% in the visible region with optical band gap 3.85eV.
The current voltage characterization of NiO/Si heterojunction has good rectifying.
Keywords : NiO thin film, photodetector, Characterization of NiO
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Jbair, Dua S.& Simon, Jihan A.& Khashshan, Khawlah S.. 2015. Nanostructure NiO films prepared by PLD and their optoelectronic properties. Engineering and Technology Journal،Vol. 33, no. 5B, pp.951-959.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-655643
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Jbair, Dua S.…[et al.]. Nanostructure NiO films prepared by PLD and their optoelectronic properties. Engineering and Technology Journal Vol. 33, no. 5B (May. 2015), pp.951-959.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-655643
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Jbair, Dua S.& Simon, Jihan A.& Khashshan, Khawlah S.. Nanostructure NiO films prepared by PLD and their optoelectronic properties. Engineering and Technology Journal. 2015. Vol. 33, no. 5B, pp.951-959.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-655643
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 957-959
رقم السجل
BIM-655643
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر