Morphology and electrical properties of Cu X Zn1-XO thin films prepared by PLD technique
العناوين الأخرى
الخصائص التركيبية و الكهربائية للأغشية الرقيقية Cu X Zn1-XO المحضرة بتقنية (PLD)
المؤلفون المشاركون
Nasir, Iman Muzhir
Ali, Asma Natiq Muhammad
Adim, Kazim Abd al-Wahid
المصدر
العدد
المجلد 14، العدد 29 (30 إبريل/نيسان 2016)، ص ص. 8-14، 7ص.
الناشر
تاريخ النشر
2016-04-30
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Cu X Zn1-XO films with different x content have been prepared by pulse laser deposition technique at room temperatures (RT) and different annealing temperatures (373 and 473) K.
The effect of x content of Cu (0, 0.2, 0.4, 0.6, 0.8) wt.% on morphology and electrical properties of CuXZn1-XO thin films have been studied.
AFM measurements showed that the average grain size values for CuXZn1-xO thin films at RT and different annealing temperatures (373, 473) K decreases, while the average Roughness values increase with increasing x content.
The D.C conductivity for all films increases as the x content increase and decreases with increasing the annealing temperatures.
Hall measurements showed that there are two types of conductance (n- type and p-type charge carriers).
Also the variation of drift velocity (vd), carrier life time (), and free mean path (l) with different x content and annealing temperatures were measured.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Nasir, Iman Muzhir& Ali, Asma Natiq Muhammad& Adim, Kazim Abd al-Wahid. 2016. Morphology and electrical properties of Cu X Zn1-XO thin films prepared by PLD technique. Iraqi Journal of Physics،Vol. 14, no. 29, pp.8-14.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-722763
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Nasir, Iman Muzhir…[et al.]. Morphology and electrical properties of Cu X Zn1-XO thin films prepared by PLD technique. Iraqi Journal of Physics Vol. 14, no. 29 (Apr. 2016), pp.8-14.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-722763
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Nasir, Iman Muzhir& Ali, Asma Natiq Muhammad& Adim, Kazim Abd al-Wahid. Morphology and electrical properties of Cu X Zn1-XO thin films prepared by PLD technique. Iraqi Journal of Physics. 2016. Vol. 14, no. 29, pp.8-14.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-722763
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 14
رقم السجل
BIM-722763
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر