Barrier height and changing insulator thickness of thin film MIS junctions
العناوين الأخرى
ارتفاع الحاجز و تغيير سمك العازل للأغشية الرقيقة لوصلات معدن عازل-شبه موصل
المؤلف
المصدر
Journal of University of Anbar for Pure Science
العدد
المجلد 10، العدد 3 (31 ديسمبر/كانون الأول 2016)، ص ص. 35-40، 6ص.
الناشر
تاريخ النشر
2016-12-31
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
6
التخصصات الرئيسية
العلوم الاقتصادية والمالية وإدارة الأعمال
الملخص EN
Using thermal evaporation, metal-semiconductor and metal-insulator-semiconductor thin-films were prepared.
By using experimental I-V and activation energy measurements, it was determined that barrier height ( ) increases as the thickness of the insulator increases.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Salih, Jasim Muhammad. 2016. Barrier height and changing insulator thickness of thin film MIS junctions. Journal of University of Anbar for Pure Science،Vol. 10, no. 3, pp.35-40.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-816291
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Salih, Jasim Muhammad. Barrier height and changing insulator thickness of thin film MIS junctions. Journal of University of Anbar for Pure Science Vol. 10, no. 3 (2016), pp.35-40.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-816291
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Salih, Jasim Muhammad. Barrier height and changing insulator thickness of thin film MIS junctions. Journal of University of Anbar for Pure Science. 2016. Vol. 10, no. 3, pp.35-40.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-816291
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
رقم السجل
BIM-816291
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر