Structural characterizations, optical and electrical properties of zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition method
العناوين الأخرى
المميزات البنيوية و الخصائص الضوئية و الكهربائية لأفلام رقيقة من أكسيد الزنك منماة بطريقة الترسيب الذري الطبقي
المؤلفون المشاركون
المصدر
Tishreen University Journal for Research and Scientific Studies : Basic Sciences Series
العدد
المجلد 35، العدد 4 (31 ديسمبر/كانون الأول 2013)، ص ص. 125-133، 9ص.
الناشر
تاريخ النشر
2013-12-31
دولة النشر
سوريا
عدد الصفحات
9
التخصصات الرئيسية
العلوم الطبيعية والحياتية (متداخلة التخصصات)
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Khallas, Talal& Sarim, Ammar. 2013. Structural characterizations, optical and electrical properties of zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition method. Tishreen University Journal for Research and Scientific Studies : Basic Sciences Series،Vol. 35, no. 4, pp.125-133.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-830474
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Khallas, Talal& Sarim, Ammar. Structural characterizations, optical and electrical properties of zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition method. Tishreen University Journal for Research and Scientific Studies : Basic Sciences Series Vol. 35, no. 4 (2013), pp.125-133.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-830474
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Khallas, Talal& Sarim, Ammar. Structural characterizations, optical and electrical properties of zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition method. Tishreen University Journal for Research and Scientific Studies : Basic Sciences Series. 2013. Vol. 35, no. 4, pp.125-133.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-830474
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
رقم السجل
BIM-830474
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر