Structural characterizations, optical and electrical properties of zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition method

العناوين الأخرى

المميزات البنيوية و الخصائص الضوئية و الكهربائية لأفلام رقيقة من أكسيد الزنك منماة بطريقة الترسيب الذري الطبقي

المؤلفون المشاركون

Khallas, Talal
Sarim, Ammar

المصدر

Tishreen University Journal for Research and Scientific Studies : Basic Sciences Series

العدد

المجلد 35، العدد 4 (31 ديسمبر/كانون الأول 2013)، ص ص. 125-133، 9ص.

الناشر

جامعة تشرين

تاريخ النشر

2013-12-31

دولة النشر

سوريا

عدد الصفحات

9

التخصصات الرئيسية

العلوم الطبيعية والحياتية (متداخلة التخصصات)

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

Khallas, Talal& Sarim, Ammar. 2013. Structural characterizations, optical and electrical properties of zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition method. Tishreen University Journal for Research and Scientific Studies : Basic Sciences Series،Vol. 35, no. 4, pp.125-133.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-830474

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

Khallas, Talal& Sarim, Ammar. Structural characterizations, optical and electrical properties of zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition method. Tishreen University Journal for Research and Scientific Studies : Basic Sciences Series Vol. 35, no. 4 (2013), pp.125-133.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-830474

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

Khallas, Talal& Sarim, Ammar. Structural characterizations, optical and electrical properties of zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition method. Tishreen University Journal for Research and Scientific Studies : Basic Sciences Series. 2013. Vol. 35, no. 4, pp.125-133.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-830474

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

الإنجليزية

الملاحظات

رقم السجل

BIM-830474