![](/images/graphics-bg.png)
Study the surface characterization of anodic grow SiO2 nano film on si by using AFM
المؤلف
المصدر
College of Basic Education Researches Journal
العدد
المجلد 14، العدد 4 (30 سبتمبر/أيلول 2018)، ص ص. 511-531، 21ص.
الناشر
جامعة الموصل كلية التربية الأساسية
تاريخ النشر
2018-09-30
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
21
التخصصات الرئيسية
العلوم الاجتماعية (متداخلة التخصصات)
الملخص EN
In this work studied The surface characterization of SiO2 nano film in the thickness range (2.3- 11.5) nm by using atomic force microscopy .
SiO2 nano film growth on Silicon (100) p-type substrates , by using the anodic oxidation technique using (%75H2O+%25 isopropanol ) solution containing 0.1N KNO3 as supporting electrolyte.
The chemical analysis of the surface of SiO2 has been done by (EDAX) shows the presence of O and Si elements, The films thickness has been found that is increases as formation potential increases.
The (AFM) is used to study the nanotopography of SiO2 film .
However it has been found that all of the following characteristics ,the nanotopography of the SiO2 nano film , root mean square RMS surface roughness of the SiO2 nano film , grain area , grain volume and grain length increases with the increase of SiO2 nano thickness
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Isa, Asim A.. 2018. Study the surface characterization of anodic grow SiO2 nano film on si by using AFM. College of Basic Education Researches Journal،Vol. 14, no. 4, pp.511-531.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-895978
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Isa, Asim A.. Study the surface characterization of anodic grow SiO2 nano film on si by using AFM. College of Basic Education Researches Journal Vol. 14, no. 4 (2018), pp.511-531.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-895978
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Isa, Asim A.. Study the surface characterization of anodic grow SiO2 nano film on si by using AFM. College of Basic Education Researches Journal. 2018. Vol. 14, no. 4, pp.511-531.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-895978
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 529-531
رقم السجل
BIM-895978
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)