Optical characterizations of rf-magnetron sputtered nanocrystalline tio2 thin film
المؤلف
المصدر
Engineering and Technology Journal
العدد
المجلد 36، العدد 2B (28 فبراير/شباط 2018)، ص ص. 156-159، 4ص.
الناشر
تاريخ النشر
2018-02-28
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
4
التخصصات الرئيسية
تكنولوجيا المعلومات وعلم الحاسوب
الملخص EN
TiO2 nanocrystalline thin films are widely used as antireflection coating in solar cell, in this paper, RF magnetron sputtering technique is used to prepare TiO2 thin film on glass substrates, TiO2 thin films deposited under different powers (75,100,125 and 150) Watt for (1.5) hour resulted in different layer thickness (62.5,88,118 and 132.6) nm respectively.
The optical properties examined by UV-VIS spectroscopy.
TiO2 thin films exhibit a high transparency in the region from about 3 50 nm above, we suggest that these results indicate the most suitable growing conditions for obtaining high quality sputtered TiO2 thin films with higher transparence performance for solar cell application.
the optical absorbance coefficient for all films were genuinely high esteems coming to above 104 cm-1, which implies that there is allowed direct transitions, the energy gab reach to the typical value of the bulk TiO2 (3.5) eV
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Sadkhan, Azhar Kazim. 2018. Optical characterizations of rf-magnetron sputtered nanocrystalline tio2 thin film. Engineering and Technology Journal،Vol. 36, no. 2B, pp.156-159.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-899564
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Sadkhan, Azhar Kazim. Optical characterizations of rf-magnetron sputtered nanocrystalline tio2 thin film. Engineering and Technology Journal Vol. 36, no. 2B (2018), pp.156-159.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-899564
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Sadkhan, Azhar Kazim. Optical characterizations of rf-magnetron sputtered nanocrystalline tio2 thin film. Engineering and Technology Journal. 2018. Vol. 36, no. 2B, pp.156-159.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-899564
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 158-159
رقم السجل
BIM-899564
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر