Photoluminescence behavior of Cu2+xZn1-xSnS4 thin films by SILAR method
المؤلفون المشاركون
Henry, J.
Mohanraj, K.
Sivakumar, G. Ch. V.
المصدر
العدد
المجلد 11، العدد 2 (31 أغسطس/آب 2018)، ص ص. 101-105، 5ص.
الناشر
جامعة اليرموك عمادة البحث العلمي و الدراسات العليا
تاريخ النشر
2018-08-31
دولة النشر
الأردن
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Cu2ZnSnS4 thin films were deposited on a glass substrate by chemical method.
The XRD pattern confirms the formation of tetragonal structure CZTS and peak shift is noticed for Cu doping.
The absorption coefficient is in the order of 104cm-1 and the band gap is found to be about 1.9 eV – 1.75 eV.
The PL spectra show red shift for higher Cu doping concentrations.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Henry, J.& Mohanraj, K.& Sivakumar, G. Ch. V.. 2018. Photoluminescence behavior of Cu2+xZn1-xSnS4 thin films by SILAR method. Jordan Journal of Physics،Vol. 11, no. 2, pp.101-105.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-936557
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Henry, J.…[et al.]. Photoluminescence behavior of Cu2+xZn1-xSnS4 thin films by SILAR method. Jordan Journal of Physics Vol. 11, no. 2 (2018), pp.101-105.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-936557
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Henry, J.& Mohanraj, K.& Sivakumar, G. Ch. V.. Photoluminescence behavior of Cu2+xZn1-xSnS4 thin films by SILAR method. Jordan Journal of Physics. 2018. Vol. 11, no. 2, pp.101-105.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-936557
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
رقم السجل
BIM-936557
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
