Buckling of Single-Crystal Silicon Nanolines under Indentation
المؤلفون المشاركون
Kang, Min K.
Li, Bin
Ho, Paul S.
Huang, Rui
المصدر
العدد
المجلد 2008، العدد 2008 (31 ديسمبر/كانون الأول 2008)، ص ص. 1-11، 11ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2008-03-24
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
11
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Atomic force microscope-(AFM-) based indentation tests were performed to examine mechanical properties of parallel single-crystal silicon nanolines (SiNLs) of sub-100-nm line width, fabricated by a process combining electron-beam lithography and anisotropic wet etching.
The SiNLs have straight and nearly atomically flat sidewalls, and the cross section is almost perfectly rectangular with uniform width and height along the longitudinal direction.
The measured load-displacement curves from the indentation tests show an instability with large displacement bursts at a critical load ranging from 480 μN to 700 μN.
This phenomenon is attributed to a transition of the buckling mode of the SiNLs under indentation.
Using a set of finite element models with postbuckling analyses, we analyze the indentation-induced buckling modes and investigate the effects of tip location, contact friction, and substrate deformation on the critical load of mode transition.
The results demonstrate a unique approach for the study of nanomaterials and patterned nanostructures via a combination of experiments and modeling.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Kang, Min K.& Li, Bin& Ho, Paul S.& Huang, Rui. 2008. Buckling of Single-Crystal Silicon Nanolines under Indentation. Journal of Nanomaterials،Vol. 2008, no. 2008, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-988085
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Kang, Min K.…[et al.]. Buckling of Single-Crystal Silicon Nanolines under Indentation. Journal of Nanomaterials No. 2008 (2008), pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-988085
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Kang, Min K.& Li, Bin& Ho, Paul S.& Huang, Rui. Buckling of Single-Crystal Silicon Nanolines under Indentation. Journal of Nanomaterials. 2008. Vol. 2008, no. 2008, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-988085
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-988085
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر