Field Effect on Crystal Phase of Silicon in SiCeO2SiO2 Structure
المؤلف
المصدر
العدد
المجلد 2008، العدد 2008 (31 ديسمبر/كانون الأول 2008)، ص ص. 1-4، 4ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2008-05-15
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
4
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
The structural, optical, and conductivity properties of silicon film deposited on cerium dioxide buffer layer were studied.
The electronic structure of system consists of various defect levels inside band gap.
The temperature spatial distribution plays a great role in silicon crystallization.
The field destruction of crystal phase and its restoration, after annealing, were investigated.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Milovzorov, Dmitry E.. 2008. Field Effect on Crystal Phase of Silicon in SiCeO2SiO2 Structure. Journal of Nanomaterials،Vol. 2008, no. 2008, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-988109
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Milovzorov, Dmitry E.. Field Effect on Crystal Phase of Silicon in SiCeO2SiO2 Structure. Journal of Nanomaterials No. 2008 (2008), pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-988109
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Milovzorov, Dmitry E.. Field Effect on Crystal Phase of Silicon in SiCeO2SiO2 Structure. Journal of Nanomaterials. 2008. Vol. 2008, no. 2008, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-988109
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-988109
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
